SmartXAFS X 射線吸收精細結構譜儀，采用固定X射線源的設計，移動晶體和探測器獲取數(shù)據。XAFS對中心吸收原子的局域結構（尤其是在0.1nm范圍內）及其化學環(huán)境十分敏感，可以在原子尺度上給出某一特征原子周圍幾個近鄰配位殼層的結構信息。

產品優(yōu)勢

◆ 無需同步輻射光源實現(xiàn)在實驗室內的高質量樣品測試

◆ 三軸懸浮式晶體姿態(tài)自動調節(jié)

◆ 具有原位拓展性

◆ 透射模式XAFS，可拓展XES模式

◆ 能量掃描機構，可實現(xiàn)一個光源，多種實驗方法聯(lián)用，如XRD，SAXS，PDF等

◆ 固定X射線源方便更換，例如液態(tài)金屬靶等滿足高能量范圍需求。同時支持擴展其他功能SAXS、XRD、PDF等，降低實驗室成本。

◆ 高精度多軸控制系統(tǒng)確保運動控制的精確性，極大地提高了能量分辨率和數(shù)據采集的重復性，獲得可靠和高質量的數(shù)據支持。

◆ 自研的單色器晶體可以選擇特定波長的X射線，提高光譜分辨率的同時有效濾除不需要的雜散光和背景噪聲。

◆ 原位XAFS實驗裝置專為滿足各種測試需求而設計，具備靈活的配置選項。根據實驗要求，定制化裝置，以實現(xiàn)性能和結果。

◆ 軟件智能化設計，自動化操作流程，操作更簡便高效。智能算法確保數(shù)據處理精確，人機交互界面友好只管，提示用戶使用體驗。