深圳納加霍里科技專業(yè)代理銷售日本KITA 半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針標準型）K-026-2CA 產(chǎn)品特點如下：

日本KITA 半導(dǎo)體PCB 檢查的彈簧探針標準型K-026-2CA 擁有多種用于電路板檢測的彈簧探針，從裸板測試到 ICT。除了彈簧探針的形狀和總長度的變化之外

PCB（印刷電路板）測試（如ICT、FCT）設(shè)計的標準彈簧探針（Test Probe），以高耐久性、穩(wěn)定接觸電阻和緊湊結(jié)構(gòu)為特點，廣泛應(yīng)用于電子制造領(lǐng)域的測試環(huán)節(jié)。

核心特性

結(jié)構(gòu)設(shè)計

三件式結(jié)構(gòu)：針管（Barrel）、彈簧（Spring）、針頭（Plunger）組成，內(nèi)部彈簧提供穩(wěn)定接觸壓力。

鍍金層：關(guān)鍵部位鍍金（如針頭），確保低接觸電阻（通常＜50mΩ）和抗氧化性。

緊湊尺寸：直徑范圍常見為0.5mm~2.0mm，適合高密度PCB布局測試。

電氣性能

額定電流：1A~3A（視具體型號），電壓通常低于50V。

接觸電阻穩(wěn)定性：反復(fù)插拔后電阻變化率低，保障測試準確性。

機械耐久性

壽命：典型值10萬~50萬次插拔（依據(jù)負載和環(huán)境條件）。

行程范圍：1.0mm~5.0mm（如K2-15系列行程3.0mm），提供彈性緩沖避免PCB損傷。

兼容性

適配多種測試治具（Fixture），如日本品牌（如JEMIC）或國際標準接口。

K-026-2CA 型號關(guān)鍵特性

基本結(jié)構(gòu)

屬于K2系列標準三件式彈簧探針（針管+彈簧+針頭），專為PCB測試（如ICT/FCT）設(shè)計。

鍍金接觸部分：確保低接觸電阻（典型值＜30mΩ）和抗氧化，適合精密測試。

尺寸參數(shù)

外徑：可能為 1.5mm~2.0mm（參考K2系列常見尺寸）。

行程：預(yù)計 2.0mm~3.0mm（提供適度彈性緩沖，避免PCB損傷）。

總長：約 20mm~26mm（型號中的“026”可能暗示總長26mm）。

電氣性能

額定電流：約 1A~2A（標準K2系列范圍）。

電壓范圍：DC/AC 50V以下。

機械性能

壽命：預(yù)計 50,000~100,000次 插拔（依賴負載和操作環(huán)境）。

彈簧力：中等壓力（如100gf~300gf），平衡接觸可靠性與PCB保護。

應(yīng)用場景

ICT測試：檢測PCB開路、短路、元件焊接缺陷。

FCT測試：功能驗證，需穩(wěn)定接觸供電和信號傳輸。

高頻測試：部分型號支持高頻信號（需選低電感設(shè)計變種）。

典型型號與參數(shù)示例

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