JSM-IT810 場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡
| 參考價(jià) | ￥500000-￥1000000/件 |
- 公司名稱 賽非特科學(xué)儀器（蘇州）有限公司
- 品牌其他品牌
- 型號(hào)JSM-IT810
- 所在地蘇州市
- 廠商性質(zhì)代理商
- 更新時(shí)間2025/4/23 11:01:14
- 訪問(wèn)次數(shù) 31
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| 背散射電子圖像分辨率 | 3 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 二次電子圖象分辨率 | 0.6nm | 放大倍數(shù) | 2000000x |
| 加速電壓 | 30kV | 價(jià)格區(qū)間 | 50萬(wàn)-100萬(wàn) |
| 儀器種類 | 熱場(chǎng)發(fā)射 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池,制藥/生物制藥,汽車及零部件,綜合 |
JSM-IT810場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡利用自動(dòng)化技術(shù)，提高了從儀器調(diào)試到觀測(cè)分析的操作效率！
JSM-IT810場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡系列FE-SEM結(jié)合多功能性和高空間分辨率，實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化操作。內(nèi)置無(wú)需編碼的成像和EDS分析自動(dòng)化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外，還新增了一些功能，確保所有SEM用戶獲得高質(zhì)量數(shù)據(jù)和更好的用戶體驗(yàn)。 這些功能包括SEM自動(dòng)調(diào)整包、梯形校正功能（在EBSD測(cè)試中非常有用）、以及用于觀察表面形貌的Live 3D重構(gòu)功能。
FE-SEM的操作從沒(méi)有像JSM-IT810系列這么簡(jiǎn)單。
主要特點(diǎn)
1. 自動(dòng)觀察分析功能“Neo Action”
智能操作，自動(dòng)執(zhí)行SEM觀測(cè)和能譜分析(EDS)
Sample: Chondrules in chondrite Julesberg (L3.6)，Landing Voltage: 5 kV
2. 自動(dòng)校準(zhǔn)功能“SEM自動(dòng)調(diào)整包”
用標(biāo)樣來(lái)進(jìn)行自動(dòng)倍率調(diào)整、電子束對(duì)中和EDS能量校準(zhǔn)。定期檢查確保設(shè)備處于最佳狀態(tài)。
3. 實(shí)時(shí)3D功能
5段半導(dǎo)體型探測(cè)器可以選擇背散射電子信號(hào)。從外側(cè)4段獲取的二維圖像可用于三維圖像重構(gòu)。
全新的Live-3D功能可實(shí)時(shí)測(cè)量和檢查樣品的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。
4. 一體化EDS
一體化EDS集成消除了SEM觀察與EDS元素分析之間的障礙。觀察屏幕上有點(diǎn)、面、線、和MAP等各種分析模式，可以立刻進(jìn)行分析。
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