Santec SPA-110 掃頻光子學分析儀
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 深圳市晧辰電子科技有限公司
- 品牌 Santec/日本
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時間 2024/12/2 11:48:02
- 訪問次數(shù) 279
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保修期限 | 無 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
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產(chǎn)品成色 | 全新 | 使用年限 | 4-5年 |
應用領(lǐng)域 | 電子,電氣 |
產(chǎn)品概述:
SPA-110 是 Santec 的下一代掃描光子學分析儀。它用作 Santec 可調(diào)諧激光器的便捷光頻域反射法 (OFDR) 附加模塊。配對后,這個完整的系統(tǒng)甚至可以分析緊湊和復雜的光學元件,提供反射率、透射率、傳播損耗和事件距離的詳細結(jié)果。
整個系統(tǒng)使用光頻域反射法 (OFDR) 技術(shù)來分析空間域中光纖器件和元件的背向反射和傳輸特性。它生成的跡線類似于光時域反射儀 (OTDR) 的跡線,但分辨率和精度明顯更高。該系統(tǒng)的采樣分辨率為 5 μm,可輕松識別光子集成電路 (PIC) 和硅光子 (SiPh) 器件內(nèi)的結(jié)構(gòu)。
SPA-110 基于 Santec 的 SPA-100 技術(shù),將總測量范圍從 5 米擴展到 30 米。這種增加的范圍允許在光纖設置中添加光信號調(diào)節(jié)設備,例如偏振控制器和光開關(guān)。這一增強功能使該系統(tǒng)特別適用于對硅光子電路、光纖元件和緊湊型光纖組件等小型器件進行更全面的表征。
此外,擴展的掃描長度允許分析具有緊密間隔組件的較長光纜組件,而 OTDR 技術(shù)可能難以區(qū)分它們。
產(chǎn)品特點:
業(yè)界最高分辨率的反射計 (<5 μm)
測量光學元件上的插入損耗和回波損耗
改進的 30m 測量范圍
用于硅光子對準和測試的接近傳感
與 Santec TSL-570(也稱為 TSL-550/TSL-710/TSL-770)集成)
用于集成 OPM 的饋通端口,用于硅光子器件的主動對準
用于硅光子應用的保偏光纖
WDL 測量的寬掃描范圍(高達 160 nm)
提供 O 波段和 CL 波段配置。
寬動態(tài)范圍 (>80 dB),用于 WDL 測量,無需增益切換
包括簡單的分析軟件