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深圳市安川測(cè)量?jī)x器有限公司

當(dāng)前位置:深圳市安川測(cè)量?jī)x器有限公司>>SANKO日本三高>>膜厚計(jì)>>SWT-7000SWT-7200Ⅲ測(cè)厚儀金屬用探測(cè)頭Fe-0.6Pem

SWT-7200Ⅲ測(cè)厚儀金屬用探測(cè)頭Fe-0.6Pem

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):SWT-7000

品       牌: 其他品牌

廠商性質(zhì):代理商

所  在  地:深圳市

更新時(shí)間:2024-08-08 17:50:56瀏覽次數(shù):1373

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產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 地礦,建材,電子,綜合
SWT-7200Ⅲ測(cè)厚儀金屬用探測(cè)頭Fe-0.6Pem
總代理:sanko三高,涂層測(cè)厚儀/金屬探知器/水分計(jì)
EISEN愛(ài)森,針規(guī)/三線規(guī)/螺紋規(guī)
RIKEN理研,水平儀/偏擺儀/直角尺
我司專做日本進(jìn)口測(cè)量工具和檢測(cè)儀器,日本那邊有自己的商社,直接從日本進(jìn)貨,價(jià)格很有優(yōu)勢(shì),只要是日本的產(chǎn)品,你都可以問(wèn)下我這邊

SWT-7200Ⅲ測(cè)厚儀金屬用探測(cè)頭Fe-0.6Pem

SWT-7000+FN325探頭:可進(jìn)行鐵材和非鐵材為基材上的涂層厚度。

新的兩用探測(cè)頭FN-325可用于SWT系列的產(chǎn)品(7000、8000、9000)可測(cè)量鐵與非鐵底材為基體的涂層厚度。


SWT系列探頭可互換?!?/p>

 ◆ 兩用型 : FN-325  

 ◆ 鐵材用 : Fe 系列        

 ◆ 非鐵材 : NFe 系列

探測(cè)頭型號(hào)

FN-325

測(cè)量方式

電磁式·渦電流式兩用(鐵·非鐵底材自動(dòng)識(shí)別)

測(cè)量范圍

鐵底材:0~3.00mm、非鐵底材:0~2.50mm

表示分辨率

1μm:0~999μm的切換(鐵·非鐵共通)

0.1μm:0~400μm(鐵·非鐵共通)

0.5μm:400~500μm(鐵·非鐵共通)

0.01mm:1.00~3.00mm(鐵底材)

0.01mm:1.00~2.50mm(非鐵底材)

測(cè)量精度

(平滑表面)

0~100μm::1μm(鐵·非鐵共通)

或者是指示值的±2%以內(nèi)

101μm~3.00mm:±2%以內(nèi)(鐵底材)

101μm~2.50mm:±2%以內(nèi)(非鐵底材)

探測(cè)部

1點(diǎn)定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

選擇產(chǎn)品

V形探測(cè)頭套有3種(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正板、試驗(yàn)用零校正板、(鐵用·非鐵用)

測(cè)量對(duì)象

鐵底材:鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

電鍍(電解鎳除外)等

非鐵底材:鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

一般較普遍的測(cè)量物用

SWT-7200Ⅲ測(cè)厚儀金屬用探測(cè)頭Fe-0.6Pem

SWT-7000Ⅲ系列機(jī)型

機(jī)型

SWT-7000Ⅲ

SWT-7100Ⅲ

SWT-7200Ⅲ

測(cè)量范圍

連接的探測(cè)頭不同測(cè)量范圍也不同。

顯示方式

液晶顯示LCD(數(shù)據(jù)·提示信息)、背光燈

檢量線校正

2點(diǎn)校正方式(零校正、標(biāo)準(zhǔn)校正)

檢量線存儲(chǔ)

鐵、非鐵各1根

10根

測(cè)量值存儲(chǔ)

20,000點(diǎn)

數(shù)據(jù)傳送

USB

USB

統(tǒng)計(jì)功能

內(nèi)藏


附加功能

●背光燈   ●測(cè)量模式的切換(普通/連續(xù))   ●檢量線、校正值的刪除

●自動(dòng)關(guān)機(jī)功能(約3分以上不操作時(shí),機(jī)器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)) ●分辨率的切換  

●上下限值的設(shè)定(SWT-7200Ⅲ)

電源

單3電池 ×2

單3電池 ×2     電源線

使用溫度

0~40C°(不結(jié)露)

機(jī)體尺寸·重量

72(W)×30(H)×156(D)mm、 重量 210g

附屬品

干電池、收納袋子

干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件(CD)

追加產(chǎn)品

鐵材金屬用探測(cè)頭(Fe)、非鐵材金屬用探測(cè)頭(NFe)

鐵·非鐵材用探測(cè)頭(FN-325)


SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測(cè)頭(1)(Fe)

型號(hào)

Fe-2.5/2.5L

Fe-2.5LwA

Fe-0.6Pem

測(cè)量方式

電磁感應(yīng)式

測(cè)量范圍

0~2.50mm

0~600μm

表示分解率

1μm:0~999μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

0.01mm:1.00~2.50mm

1μm:0~600μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm


測(cè)量精度

(平滑面)

0~100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的±2%以內(nèi)

101μm~2.50mm:±2%

0~100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的±2%以內(nèi)

101μm~600μm:±2%

探測(cè)部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

2.5:φ13×48mm

2.5L:18×23×67mm

1點(diǎn)定壓接觸式

測(cè)量部:約20×57mm

全長(zhǎng):約550~ 1.550mm

(伸縮式)

1點(diǎn)定壓接觸式

Φ5.6×94mm

選擇產(chǎn)品

V形套頭/—

(φ5以下用、φ5~10用、φ10~20用)

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板

(鐵用)

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板(鐵用)

收納袋子

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板

(鐵用)

測(cè)量對(duì)象

鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層(電解鎳的電鍍層除外)等等

鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個(gè)的皮膜、襯層等等手不能進(jìn)去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測(cè)量。

鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測(cè)量。


SWT-7000Ⅲ系列的鐵材金屬用探測(cè)頭(2)(Fe)

型號(hào)

Fe-10

Fe-20

測(cè)量方式

電磁感應(yīng)式

測(cè)量范圍

0~10mm

0~20mm

表示分解率


1μm:0~999μm

0.01mm:1~10mm


1μm:0~999μm

0.01mm:1~5mm

0.1mm:5~20mm

測(cè)量精度

(平滑面)

0~3mm:±(5μm+顯示值的3%)

3.01mm:顯示值的±3%

探測(cè)部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ18×47mm

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ35×59mm

選擇產(chǎn)品

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗(yàn)用零校正板(鐵用)

測(cè)量對(duì)象

鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

探測(cè)頭要根據(jù)需要購(gòu)買。

SWT-7000Ⅲ系列的非鐵材金屬用探測(cè)頭(NFe)

型號(hào)

NFe-2.0/NFe-2.0L

NFe-06

NFe-8

測(cè)量方式

渦電流式

測(cè)量范圍

0~2.00mm

0~600μm

0~8mm


表示分解率

1μm:0~999μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm

0.01mm:1.00~2.00mm

1μm:0~600μm

切換

0.1μm:0~400μm

0.5μm:400~500μm



1μm:0~999μm

0.01mm:1~8mm


測(cè)量精度

(平滑表面)

0~100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的

±2%以內(nèi)

101μm~2.00mm:

±2%以內(nèi)

0~100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的

±2%以內(nèi)

101μm~600μm:

±2%以內(nèi)

0~100μm:±1μm

±(±1μm+顯示值的±2%)

101μm~8mm:

±2%以內(nèi)


探測(cè)部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

2.0:φ13×47mm

2.0L:18×23×67mm

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ11×48mm


1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ35×61mm


選擇產(chǎn)品

V形套頭/-

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗(yàn)用零校正板(非鐵用)

測(cè)量對(duì)象

鋁、銅等非磁性金屬底材

上的絕緣性皮膜等一般普

通測(cè)量物用。

鋁、銅等非磁性金屬底

材上的絕緣性皮膜等

細(xì)小的圓棒、細(xì)管、小

物件等的高安定性用。

鋁、銅等非磁性金屬

底材上的絕緣性皮膜等

比較厚的測(cè)量物用。

探測(cè)頭要根據(jù)需要購(gòu)買。


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