機(jī)型

SWT-7000Ⅲ

SWT-7100Ⅲ

SWT-7200Ⅲ

測量范圍

連接的探測頭不同測量范圍也不同。

顯示方式

     液晶顯示LCD（數(shù)據(jù)·提示信息）、背光燈

檢量線校正

2點(diǎn)校正方式（零校正、標(biāo)準(zhǔn)校正）

檢量線存儲(chǔ)

鐵、非鐵各1根

10根

測量值存儲(chǔ)

—

20,000點(diǎn)

數(shù)據(jù)傳送

—

USB

USB

統(tǒng)計(jì)功能

—

—

內(nèi)藏

附加功能

●背光燈　　　●測量模式的切換（普通／連續(xù)）　　　●檢量線、校正值的刪除

 ●自動(dòng)關(guān)機(jī)功能（約3分以上不操作時(shí)，機(jī)器會(huì)自動(dòng)關(guān)機(jī)）　●分辨率的切換　　

 ●上下限值的設(shè)定（SWT-7200Ⅲ）

電源

單3電池 ×2

單3電池 ×2     電源線

使用溫度

0～40C°（不結(jié)露）

機(jī)體尺寸·重量

72（W）×30（H）×156（D）mm、 重量 210g

附屬品

干電池、收納袋子

干電池、收納袋子、電源線、USB線、USB軟件（CD）

追加產(chǎn)品

鐵材金屬用探測頭（Fe）、非鐵材金屬用探測頭（NFe）

鐵·非鐵材用探測頭（FN-325）

探測頭型號

FN-325

測量方式

電磁式·渦電流式兩用（鐵·非鐵底材自動(dòng)識別）

測量范圍

鐵底材：0～3.00mm、非鐵底材：0～2.50mm

表示分辨率

1μm：0～999μm的切換（鐵·非鐵共通）

      0.1μm：0～400μm（鐵·非鐵共通）

      0.5μm：400～500μm（鐵·非鐵共通）

0.01mm:1.00～3.00mm（鐵底材）

0.01mm:1.00～2.50mm（非鐵底材）

測量精度

（平滑表面）

0～100μm：:1μm（鐵·非鐵共通）

或者是指示值的±2%以內(nèi)

101μm～3.00mm:±2%以內(nèi)（鐵底材）

101μm～2.50mm:±2%以內(nèi)（非鐵底材）

探測部

1點(diǎn)定壓接觸式、V形切口、φ13×52mm、72g

選擇產(chǎn)品

V形探測頭套有3種（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正板、試驗(yàn)用零校正板、（鐵用·非鐵用）

測量對象

鐵底材：鐵·鋼等磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂膜、

        電鍍（電解鎳除外）等

非鐵底材：鋁、銅等非磁性金屬底材上的絕緣皮膜等

          一般較普遍的測量物用

型號

Fe-2.5/2.5L

Fe-2.5LwA

Fe-0.6Pem

測量方式

電磁感應(yīng)式

測量范圍

0～2.50mm

0～600μm

表示分解率

1μm：0～999μm

切換

              0.1μm：0～400μm

 0.5μm：400～500μm

              0.01mm:1.00～2.50mm

1μm：0～600μm

切換

0.1μm：0～400μm

  0.5μm：400～500μm

測量精度

（平滑面）

0～100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的±2%以內(nèi)

              101μm～2.50mm：±2%

0～100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的±2%以內(nèi)

101μm～600μm：±2%

探測部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

   2.5：φ13×48mm

   2.5L:18×23×67mm

1點(diǎn)定壓接觸式

測量部：約20×57mm

全長：約550～ 1.550mm

     （伸縮式）

1點(diǎn)定壓接觸式

      Φ5.6×94mm

選擇產(chǎn)品

V形套頭/—

（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）

—

—

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板

（鐵用）

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板（鐵用）

收納袋子

標(biāo)準(zhǔn)校正片

試驗(yàn)用零校正板

        （鐵用）

測量對象

鐵·鋼等的磁性金屬底材上的皮膜、襯層、噴涂層、電鍍層（電解鎳的電鍍層除外）等等

鐵·鋼等的磁性金屬底材是哪個(gè)的皮膜、襯層等等手不能進(jìn)去、高的地方、有距離的地方的涂層厚度的測量。

鐵·鋼等磁性金屬底材上的涂層、襯層等狹小的地方、小的部位的涂層的膜厚測量。

型號

Fe-10

Fe-20

測量方式

電磁感應(yīng)式

測量范圍

0～10mm

0～20mm

表示分解率

1μm：0～999μm

0.01mm:1～10mm

  1μm：0～999μm

0.01mm:1～5mm

0.1mm:5～20mm

測量精度

（平滑面）

0～3mm：±（5μm＋顯示值的3%）

              3.01mm：顯示值的±3%

探測部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ18×47mm

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ35×59mm

選擇產(chǎn)品

—

—

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗(yàn)用零校正板（鐵用）

測量對象

鐵·鋼等磁性金屬底材的比較厚的涂層用

鐵·鋼等磁性金屬底材上的厚涂層用

型號

NFe-2.0/NFe-2.0L

NFe-06

NFe-8

測量方式

渦電流式

測量范圍

0～2.00mm

0～600μm

0～8mm

表示分解率

1μm：0～999μm

 切換

0.1μm：0～400μm

  0.5μm：400～500μm

  0.01mm:1.00～2.00mm

1μm：0～600μm

 切換

0.1μm：0～400μm

 0.5μm：400～500μm

1μm：0～999μm

0.01mm：1～8mm

 測量精度

（平滑表面）

0～100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的

±2%以內(nèi)

101μm～2.00mm：

          ±2%以內(nèi)

0～100μm:±1μm

又或者時(shí)顯示值的

±2%以內(nèi)

101μm～600μm：

          ±2%以內(nèi)

0～100μm:±1μm

±（±1μm＋顯示值的±2%）

101μm～8mm：

          ±2%以內(nèi)

探測部

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

2.0：φ13×47mm

2.0L：18×23×67mm

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ11×48mm

1點(diǎn)定壓接觸式

V形口套頭

φ35×61mm

選擇產(chǎn)品

V形套頭/-

－

－

附屬品

標(biāo)準(zhǔn)校正片、試驗(yàn)用零校正板（非鐵用）

測量對象

鋁、銅等非磁性金屬底材

上的絕緣性皮膜等一般普

通測量物用。

鋁、銅等非磁性金屬底

材上的絕緣性皮膜等

細(xì)小的圓棒、細(xì)管、小

物件等的高安定性用。

鋁、銅等非磁性金屬

底材上的絕緣性皮膜等

比較厚的測量物用。