三高SANKO電磁式測(cè)厚儀SM-1500D|測(cè)厚儀SM-1500D
測(cè)量原理　　采用磁感應(yīng)原理時(shí)，利用從測(cè)頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的

大小，來測(cè)定覆層厚度。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)原理的測(cè)厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁覆層厚度。一般要求基材導(dǎo)磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流或測(cè)試信號(hào)。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測(cè)量感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設(shè)計(jì)引入穩(wěn)頻、鎖相、溫度補(bǔ)償?shù)鹊匦录夹g(shù)，利用磁阻來調(diào)制測(cè)量信號(hào)。還采用設(shè)計(jì)的集成電路，引入微機(jī)，使測(cè)量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高（幾乎達(dá)一個(gè)數(shù)量級(jí)）。現(xiàn)代的磁感應(yīng)測(cè)厚儀，分辨率達(dá)到0.1um，允許誤差達(dá)1%，量程達(dá)10mm。

　　磁性原理測(cè)厚儀可應(yīng)用來精確測(cè)量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內(nèi)的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業(yè)的各種防腐涂層。

編輯本段電渦流測(cè)量原理

　　高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋?zhàn)饔昧勘碚髁藴y(cè)頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小。由于這類測(cè)頭專門測(cè)量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度，所以通常稱之為非磁性測(cè)頭。非磁性測(cè)頭采用高頻材料做線圈鐵芯，例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是測(cè)頭不同，信號(hào)的頻率不同，信號(hào)的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。與磁感應(yīng)測(cè)厚儀一樣，渦流測(cè)厚儀也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程10mm的高水平。

　　采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上對(duì)所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。覆層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍（如銅上鍍鉻）。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)電體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測(cè)量較為合適

　　簡(jiǎn)單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。

　　具體地說,比如用不同的裝置測(cè)定食鹽（氯化鈉=NaCl）時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉（Na）和氯（Cl）構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉（NaCl）的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置（XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置（XRD）就很難判定,必須先用螢光X射線裝置（XRF）得到元素信息后才能進(jìn)行定性。

編輯本段螢光X射線裝置（XRF）

　　X射線的能量穿過金屬鍍層的同時(shí)，金屬元素其電子會(huì)反射其穩(wěn)定的能量波譜。通過這樣的原理，我們?cè)O(shè)計(jì)出：

膜厚測(cè)試儀也可稱為膜厚測(cè)量?jī)x，又稱金屬涂鍍層厚度測(cè)量?jī)x，其不同之處為其即是薄膜厚度測(cè)試儀，也是薄膜表層金屬元素分析儀，因響應(yīng)環(huán)保工藝準(zhǔn)則，故目前市場(chǎng)上zui普遍使用的都是無損薄膜X射線熒光鍍層測(cè)厚儀。

　　在此技術(shù)方面廣大業(yè)界*認(rèn)同日本精工膜厚測(cè)量?jī)x比較，因其為**臺(tái)膜厚測(cè)量?jī)x的生產(chǎn)商。

　　具體介紹為：進(jìn)口日本精工（SFT9100M）X-RAY熒光無損金屬薄膜電鍍層厚度測(cè)量?jī)x

　　SFT9100M是精工膜厚儀系列中經(jīng)濟(jì)實(shí)用又功能齊全的機(jī)型

　　用途：檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質(zhì)，減少電鍍成本浪費(fèi)

　　技術(shù)參數(shù)：

　　可測(cè)元素：Ti～U

　　X射線管：管電壓45KV，管電流1mA

　　檢測(cè)器：比例計(jì)數(shù)管

　　樣品觀察：CCD攝像機(jī)

　　對(duì)焦方式：激光自動(dòng)對(duì)焦

　　準(zhǔn)直器：2個(gè)（0.1mm，0.025*0.3mm）

　　安全機(jī)能：測(cè)量室門自鎖功能

　　Z軸防沖撞功能

　　儀器自診斷功能

　　主要特點(diǎn)

　　★ 自動(dòng)對(duì)焦功能 。配備激光自動(dòng)對(duì)焦功能，能夠準(zhǔn)確對(duì)焦，提高測(cè)量效率。

　　★ 具有焦點(diǎn)距離切換功能，適用于有凹凸的機(jī)械部件與電路板的底部進(jìn)行測(cè)量

　　止在對(duì)焦時(shí)造成的損壞。

　　★ 選用Mo靶材X射線管，測(cè)量貴金屬更靈敏。

　　★ 支持多種語言的軟件系統(tǒng)。簡(jiǎn)體中文、繁體中文、英語、日語、韓語

　　★ 搭載樣品尺寸的兼容性

　　可適用于各種樣品，能夠通過一臺(tái)儀器測(cè)量，從電子部件、電路板到機(jī)械部件等高度較高的樣品，從較厚

　　的樣品（機(jī)械零部件）之大型線路板（PCB）及電子元器件等

　　★ 鹵素?zé)粽彰?/p>

　　★ 即時(shí)生成測(cè)量報(bào)告的便捷性 。運(yùn)用搭載的Microsoft Word? Excel? 可以簡(jiǎn)單輕松得到制作報(bào)告

　　★ 多種修正功能。基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正

　　進(jìn)口日本精工（SFT9200）X-RAY熒光無損金屬薄膜電鍍層厚度測(cè)量?jī)x

　　SFT9200是精工膜厚儀系列中普及型

　　用途：檢測(cè)金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質(zhì)，減少電鍍成本浪費(fèi)

　　「SFT9200系列」繼承了擁有了20多年歷史及光輝業(yè)績(jī)的「SFT系列」（操作性與可靠性共存）的優(yōu)點(diǎn)，并不斷地發(fā)展，成為可對(duì)應(yīng)較廣應(yīng)用范圍的X射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x[新標(biāo)準(zhǔn)機(jī)型]。

　　產(chǎn)品副名稱：應(yīng)用范圍較廣的標(biāo)準(zhǔn)型鍍層厚度測(cè)量?jī)x

　　技術(shù)參數(shù)：

　　儀器的特長(zhǎng)：廣泛應(yīng)用型

　　可測(cè)元素：Ti～U

　　X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）管電壓：45kV 管電流：1mA Be窗

　　濾波器：

　　一次濾波器：A1-自動(dòng)切換

　　二次濾波器：Co-自動(dòng)切換

　　檢測(cè)器：比例計(jì)數(shù)管

　　對(duì)焦方式：激光自動(dòng)對(duì)焦

　　測(cè)定軟件：薄膜FP法、檢量線法

　　5個(gè)準(zhǔn)直器可自動(dòng)切換

　　型（Φ0.1、Φ0.2、Φ0.3mm）

　　型（0.2×0. 05 mm、0.05×0.02 mm）

　　Z軸防沖撞功能

　　儀器自診斷功能

　　儀器介紹：

　　SFT系列中標(biāo)準(zhǔn)型儀器

　　濾波器

　　另有SFT9250、SFT9255兩種機(jī)型

　　標(biāo)準(zhǔn)配備有Windows2000中文操作界面

　　采用檢量線法和FP法，測(cè)量數(shù)據(jù)與Word和Excel鏈接

　　自動(dòng)生成報(bào)告和數(shù)據(jù)處理

　　工作臺(tái)3維電動(dòng)，可編程進(jìn)行自動(dòng)測(cè)量

　　采用激光自動(dòng)對(duì)焦，并配備有Z軸防沖撞傳感器

　　可防止在對(duì)焦時(shí)造成儀器的損壞。

　　產(chǎn)品特點(diǎn)：

　　能夠測(cè)量無鉛焊錫

　　配備了薄膜FP法，可以同時(shí)測(cè)量Sn-Ag，Sn-Bi，Sn-Cu等，無鉛焊錫的鍍層后與成份

　　搭載中心搜索軟件

　　通過掃描樣品可以自動(dòng)檢測(cè)出線及基板點(diǎn)面部分的測(cè)量中心位置。

　　擁有防沖功能

　　搭載激光對(duì)焦系統(tǒng)

　　搭載測(cè)試報(bào)告自動(dòng)生成軟件

　　搭載了薄膜FP法軟件

　　X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波?？梢暪饩€的波長(zhǎng)為0.000001 m （1μm）左右,X射線比其短為0.000000000001 m至0.00000001 m （0.01- 100 ?）左右。

　　對(duì)某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時(shí),可以觀測(cè)到主要以下3種X射線。

　?。?） 螢光X射線

　?。?） 散亂X射線

　　（3） 透過X射線

　　SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息（組成和鍍層厚度）的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息（構(gòu)造）。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。

　　簡(jiǎn)單地說螢光X射線裝置（XRF）和X射線衍射裝置（XRD）有何不同,螢光X射線裝置（XRF）能得到某物質(zhì)中的元素信息（物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置（XRD）能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。