北京京科瑞達科技有限公司生產的LC210
島津UV-3600 Plus紫外分光光度計測定二手氧化鈦材料禁帶寬度
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禁帶寬度是半導體的一個重要特征參量,它直接影響半導體器件的耐壓和高溫工作溫度。本文使用島津UV-3600 Plus紫外分光光度計和積分球附件測定二氧化鈦(TiO2,銳鈦礦)吸收光譜圖,得到截止波長,根據公式計算得到該材料的禁帶寬度。