目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>進(jìn)口顯微鏡>>顯微鏡成像系統(tǒng)>> FPANF-Kelvin單點(diǎn)開爾文掃描探針系統(tǒng)
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更新時(shí)間：2024-05-31 16:24:30瀏覽次數(shù)：1130評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 掃描隧道顯微鏡 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,建材,電子,交通 |
單點(diǎn)開爾文掃描探針系統(tǒng)、開爾文掃描探針系統(tǒng)、開爾文探針、掃描探針系統(tǒng)、探針系統(tǒng)
這款單點(diǎn)開爾文掃描探針系統(tǒng)是用于室溫條件和普通實(shí)驗(yàn)室條件下的開爾文掃描探針系統(tǒng),Kelvin Probe System.它具有極為緊湊結(jié)構(gòu)，可安放到各種環(huán)境箱或防塵罩中。
單點(diǎn)開爾文掃描探針系統(tǒng)的探針頭與振蕩薄膜一起使用，預(yù)放大器集成到探針頭中，方便更換。
開爾文探針系統(tǒng)參數(shù)
探針與樣品表面之間采用電動(dòng)控制調(diào)節(jié)距離
Z軸定位分辨率: 5 µm
功函分辨率: < 1 meV with 1.4 mm tip diameter on metals
小的探針直徑: 0.1 mm
集成法拉第防護(hù)功能
開爾文探針頭采用純金工藝，底板表面鍍金
樣品架磁性固定到底板上
樣品架直徑：40mm 帶有 3 mm 孔用于標(biāo)準(zhǔn)SEM樣品架子
大可測(cè)樣品尺寸: 100 mm x 100 mm (mounted on Base plate)
振動(dòng)隔離腿設(shè)計(jì)
包括參考樣品材料: HOPG, Au on Si
配備湯姆森控制器和計(jì)算機(jī)
可選配溫度和濕度傳感器
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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