目錄:孚光精儀（中國(guó)）有限公司>>進(jìn)口顯微鏡>>顯微鏡成像系統(tǒng)>> FP-Field-Emission場(chǎng)致發(fā)射顯微鏡
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更新時(shí)間：2024-09-20 16:51:00瀏覽次數(shù)：787評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,航天,電氣 |
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場(chǎng)致發(fā)射顯微鏡Field Emission Microscope是專(zhuān)業(yè)為半導(dǎo)體器件漏電和門(mén)控問(wèn)題設(shè)計(jì)的熒光顯微熱像儀,可確定Ohmic斷路位置。
場(chǎng)致發(fā)射顯微鏡確定斷路位置,快速而清潔,不需要在晶圓上涂層鍍膜,可以在1000nm以下和1800nm波段顯示漏電和門(mén)控問(wèn)題。
圖示：場(chǎng)致發(fā)射顯微鏡Field Emission Microscope及其結(jié)果
場(chǎng)致發(fā)射顯微鏡Field Emission Microscope是專(zhuān)業(yè)為半導(dǎo)體器件漏電和門(mén)控問(wèn)題設(shè)計(jì)的熒光顯微熱像儀,可確定Ohmic斷路位置。
場(chǎng)致發(fā)射顯微鏡確定斷路位置,快速而清潔,不需要在晶圓上涂層鍍膜,可以在1000nm以下和1800nm波段顯示漏電和門(mén)控問(wèn)題。
場(chǎng)致發(fā)射顯微鏡Field Emission Microscope是專(zhuān)業(yè)為半導(dǎo)體器件漏電和門(mén)控問(wèn)題設(shè)計(jì)的熒光顯微熱像儀,可確定Ohmic斷路位置。
場(chǎng)致發(fā)射顯微鏡確定斷路位置,快速而清潔,不需要在晶圓上涂層鍍膜,可以在1000nm以下和1800nm波段顯示漏電和門(mén)控問(wèn)題。
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