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品牌 其他品牌
型號(hào) FPFRE-mdppro
廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
所在地 上海市

屬性

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更新時(shí)間：2024-09-11 11:16:53瀏覽次數(shù)：614評(píng)價(jià)

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產(chǎn)品分類品牌分類

光學(xué)測(cè)量系列

磁場(chǎng)消磁系統(tǒng)

掃描電鏡

晶圓測(cè)試儀器

光學(xué)薄膜測(cè)量

探針臺(tái)

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池

晶圓晶錠壽命測(cè)定儀是為晶圓晶錠測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測(cè)試儀器。采用非接觸式檢測(cè)和無損成像（μPCD /MDP（QSS））設(shè)計(jì)。

詳細(xì)介紹

晶圓晶錠壽命測(cè)定儀是為晶圓晶錠測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和樣品平整度及p/n檢查任務(wù)設(shè)計(jì)的晶圓晶錠少子壽命測(cè)試儀器。采用非接觸式檢測(cè)和無損成像（μPCD /MDP(QSS)）設(shè)計(jì)。
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀應(yīng)用
單晶晶圓壽命，多晶晶圓壽命和晶錠壽命測(cè)量
適合硅,化合物半導(dǎo)體,氧化物,寬禁帶,鈣鈦礦材料
[ CdTe | InP | ZnS | SiC | GaAs | GaN | Ge ]

晶圓晶錠壽命測(cè)定儀規(guī)格參數(shù)
最佳產(chǎn)量：>240塊/天或>720片/天
測(cè)量速度：對(duì)于156x156x400mm標(biāo)準(zhǔn)晶錠，<4分鐘
良品率提升：1mm切割標(biāo)準(zhǔn)為156x156x400mm標(biāo)準(zhǔn)晶錠
質(zhì)量控制：用于過程和材料的質(zhì)量監(jiān)控，如單晶硅或多晶硅
沾污檢測(cè)：起源于坩堝和生產(chǎn)設(shè)備的金屬(Fe)
可靠性：模塊化和堅(jiān)固耐用的工業(yè)儀器，更高可靠性，運(yùn)行時(shí)間> 99%
可重復(fù)性:> 99.5%
電阻率：可做面掃描，不需經(jīng)常校準(zhǔn)
晶圓晶錠壽命測(cè)定儀