目錄:孚光精儀（中國）有限公司>>光學(xué)測量系列>>晶圓測試儀器>> FPSIN-Suns-VocSuns-Voc后擴(kuò)散測試儀
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池 |
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Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過程控制。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀可優(yōu)化或模擬維持電壓，獲得良好的歐姆接觸或避免漏電分流。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀直接接觸P+和N區(qū)域，就可以測量出光照對應(yīng)Voc的曲線，就是Suns-Voc曲線。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀規(guī)格參數(shù)
光照范圍: 0.006~6Suns
適合硅片規(guī)格： 最大210mm 直徑
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過程控制。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀可優(yōu)化或模擬維持電壓，獲得良好的歐姆接觸或避免漏電分流。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀直接接觸P+和N區(qū)域，就可以測量出光照對應(yīng)Voc的曲線，就是Suns-Voc曲線。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀規(guī)格參數(shù)
光照范圍: 0.006~6Suns
適合硅片規(guī)格： 最大210mm 直徑
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀是Suns-Voc后擴(kuò)散過程控制的理想儀器，適合用于漿料燒結(jié)優(yōu)化和過程控制。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀可優(yōu)化或模擬維持電壓，獲得良好的歐姆接觸或避免漏電分流。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀直接接觸P+和N區(qū)域，就可以測量出光照對應(yīng)Voc的曲線，就是Suns-Voc曲線。
Suns-Voc后擴(kuò)散測試儀規(guī)格參數(shù)
光照范圍: 0.006~6Suns
適合硅片規(guī)格： 最大210mm 直徑
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