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在樣本中解析更小的細(xì)節(jié)
利用納米級(jí)分辨率揭示亞細(xì)胞過(guò)程的秘密。TauSTED Xtend利用壽命和空間信息來(lái)提高分辨率和對(duì)比度，使您能夠以深度研究活體或完整的標(biāo)本。
進(jìn)行更長(zhǎng)時(shí)間的活細(xì)胞成像
有了TauSTED Xtend，您可以進(jìn)行溫和的STED成像，保護(hù)您的樣本在延長(zhǎng)的實(shí)驗(yàn)過(guò)程中不受損害?，F(xiàn)在，您可以執(zhí)行更長(zhǎng)時(shí)間的時(shí)間延遲實(shí)驗(yàn)，拍攝更多幀數(shù)和更大體積的成像，同時(shí)使用較小的光劑量來(lái)保護(hù)您的樣本。
使用TauSTED Xtend，您將擁有更廣闊的視野。在納米級(jí)分辨率下擴(kuò)展活細(xì)胞成像能力意味著您可以在納米尺度上進(jìn)行活細(xì)胞成像，并解析圖像中更小的細(xì)節(jié)。
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