EC700系列電化學(xué)綜合測(cè)試儀擁有±28V的槽壓、±2A的電流范圍，電流測(cè)量下限低于50pA，可直接用于微、納米

電極上穩(wěn)態(tài)電流的測(cè)量，當(dāng)與屏蔽箱連接時(shí)可測(cè)量1 pA或更低的電流。此外，儀器可配置大電流模塊，從而將電

流測(cè)量范圍拓寬至±5A。
    EC700系列電化學(xué)綜合測(cè)試儀的測(cè)試技術(shù)豐富全面，不僅具備常規(guī)的電化學(xué)、電分析測(cè)試技術(shù)，而且還增加

了多頂點(diǎn)循環(huán)伏安、階梯伏安、反式常規(guī)脈沖、循環(huán)脈沖、循環(huán)方波以及的掃描-階躍-延時(shí)等技術(shù)。此外

，EC系列電化學(xué)儀還具備可編程任意波形實(shí)驗(yàn)技術(shù)，根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求，由用戶自定義任意波形，從而完成經(jīng)典電化

學(xué)方法所覆蓋不到的實(shí)驗(yàn)。
    EC700系列電化學(xué)綜合測(cè)試儀內(nèi)部含有高性能的任意波形發(fā)生器（DDS系統(tǒng)），可用于連續(xù)和分段掃描，不僅

可實(shí)現(xiàn)8M點(diǎn)（16bit）/S的電位掃描速率，而且具有±10V的寬掃描范圍。在此電壓范圍內(nèi)可以進(jìn)行任意跨度的掃

描，其連續(xù)掃描跨度達(dá)20V。在實(shí)現(xiàn)大跨度掃描的同時(shí)兼具微小跨度的電位增量。儀器內(nèi)部可根據(jù)掃描范圍的不

同自動(dòng)選擇電位增量的大小，當(dāng)掃描電壓在2V跨度范圍內(nèi)電位增量?jī)H有微小的30uV。由于該儀器擁有8M點(diǎn)

（16bit）/S的數(shù)據(jù)處理速度，所以在電位增量為30uV時(shí)掃描速度依然可達(dá)240V/S，當(dāng)電位增量在300uV時(shí)掃描速

度可達(dá)2400V/S。
    在信號(hào)采集方面，EC700系列電化學(xué)綜合測(cè)試儀使用了高信噪比、高動(dòng)態(tài)范圍的18bit模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器，分辨

率可達(dá)信號(hào)輸入范圍的1/260000。在實(shí)現(xiàn)高精度的同時(shí)采樣速度依然可達(dá)800K/S，實(shí)現(xiàn)了快速與精確的*平衡

。
    在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)方面，EC700系列電化學(xué)綜合測(cè)試儀采用了先進(jìn)先出的堆棧式存儲(chǔ)器，儀器的采樣速率不受儀器

與PC機(jī)通訊速率的限制，及時(shí)將高速采集的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在儀器內(nèi)部并實(shí)時(shí)傳給PC機(jī)，實(shí)現(xiàn)了真正的高速實(shí)時(shí)采樣。
    在控制溫漂方面，EC7C00系列電化學(xué)綜合測(cè)試儀采用了*全自動(dòng)零點(diǎn)校正系統(tǒng)，通過(guò)自動(dòng)監(jiān)控來(lái)調(diào)整溫

度漂移所帶來(lái)的測(cè)量誤差，與同類儀器相比大幅提高了其精度和可靠性。

技術(shù)參數(shù)
模塊化結(jié)構(gòu)  是（優(yōu)點(diǎn):進(jìn)口儀器的標(biāo)準(zhǔn)配備，擴(kuò)展性強(qiáng)，降低地線阻抗，提高測(cè)量精度）
恒 電 位 / 恒電流   支持
zui 大 電 流  ±2A
zui 大 反 應(yīng) 電 壓  ±10V
電 位 掃 描 跨 度 范 圍  20V                             
電 位 上 升 時(shí) 間  < 1 uS
槽 壓   ±24 V
三 電 極 或 四 電 極 設(shè) 置  支持                                
電 流 范 圍  ±300 mA
參 比 電 極 輸 入 阻 抗  1×1012 Ω
電 流 測(cè) 量 范 圍  1×10-12 A/V － 1×10-1 A/V 共12 檔 （1×10-12 A/V —1×10-9 A/V需屏蔽箱）
輸 入 偏 置 電 流  < 1 pA
電 流 測(cè) 量 分 辨 率  電流范圍的0.0004％
施 加 電 位 分 辨 率  30μV@跨度2V 300μV@跨度20V
電 位 更 新 速 率  8 MHz                        
快 速 數(shù) 據(jù) 采 集  18位分辨率@ /800KHz
輔 助 數(shù) 據(jù) 采 集  24 位 @ 10 Hz
自 動(dòng) 及 手 動(dòng) iR 降 補(bǔ) 償  硬件支持
CV 和 LSV 掃 描 速 度  0.000001 - 5000 V/s
電 位 掃 描 時(shí) 電 位 增 量  30μV @240 V/s 300μV @2400 V/s
CA 和 CC 脈 沖 寬 度  0.0001 — 1000 sec
CA 和 CC 循 環(huán) 次 數(shù)  250
DPV 和 NPV 脈 沖 寬 度  0.0001 - 10 sec
自 動(dòng) 電 位 和 電 流 零 位 調(diào) 整  支持
電 位 和 電 流 測(cè) 量 低 通 濾 波 器 , 自 動(dòng) 或 手 動(dòng) 設(shè) 置  支持
旋 轉(zhuǎn) 電 極 控 制 輸 出  ±10 V
電 解 池 控 制 輸 出  通 氮，攪 拌，敲 擊
zui 大 數(shù) 據(jù) 長(zhǎng) 度  128k –20M 可 選 擇

線性掃描伏安法（LSV）★
循環(huán)伏安法（CV/One vertex）
循環(huán)伏安法（CV/Two vertex）
循環(huán)伏安法（CV/One vertex/Multi）
循環(huán)伏安法（CV/ Two vertex/Multi）
循環(huán)/差分（微分）脈沖伏安法 （DPV+Cyclic）★
循環(huán)/方波伏安法（SWV+Cyclic）★
計(jì)時(shí)電流法（One Step CA）                      
計(jì)時(shí)電流法（Two Step CA）                      
計(jì)時(shí)電量法（One Step CC）                      
計(jì)時(shí)電量法（Two Step CC）                      
開(kāi)路電壓 - 時(shí)間曲線（OCPT）                
Tafel 方法（TAFEL）