步入式高溫老化試驗(yàn)房結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)介：

內(nèi)箱材質(zhì)：彩鋼板0.6mm厚，內(nèi)部加強(qiáng)處理

外箱材質(zhì)：彩鋼板0.6mm厚

保溫材質(zhì)：聚氨酯發(fā)泡膠 100mm厚

試驗(yàn)箱內(nèi)底部采用304不銹鋼板3.0mm厚

空氣調(diào)節(jié)通道：不銹鋼循環(huán)風(fēng)機(jī)，通過(guò)頂部背葉窗及散流器，風(fēng)均勻的從頂部吹出，將調(diào)和室中調(diào)和好的溫度、濕度散發(fā)到測(cè)試空間，從而達(dá)到均勻的控制溫濕度的目的（安裝變頻調(diào)速器,風(fēng)速?gòu)?.1～2.5m/s可調(diào)）我司安裝的馬達(dá)吹速是固定的。

箱門：科學(xué)設(shè)計(jì)大門結(jié)構(gòu)（帶安全裝置,保證入內(nèi)人員安全）

視窗照明燈：防潮燈40W*2組(飛利浦)

引線測(cè)試孔：箱體左側(cè)開(kāi)Φ50mm的測(cè)試孔1個(gè)，并附上相應(yīng)保溫的密封軟塞

箱內(nèi)插座：試驗(yàn)箱內(nèi)安接好12個(gè)防老化插座,以便通電測(cè)試用.

觀察窗：透明電熱膜中空鋼化玻璃位于門上（平衡窗,保持內(nèi)外箱平衡）帶防凝露功能,自動(dòng)除霜功能

符合之相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)：

《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)》GB/T2423.2-2001

《低壓配電設(shè)計(jì)規(guī)范》GB50054-95

《供配電設(shè)計(jì)規(guī)范》GB5002S2-95

《電氣裝置安裝工程接地裝置施工及驗(yàn)收規(guī)范》GB50169-92

《建筑材料燃燒性能分級(jí)》

《通風(fēng)與空調(diào)工程施工質(zhì)量驗(yàn)收規(guī)范》GB50243-2002

電控柜設(shè)計(jì)：設(shè)備的控制部分設(shè)計(jì)在設(shè)備的右側(cè)，分布有溫控儀、控制開(kāi)關(guān)、老化、照明開(kāi)關(guān)、時(shí)間繼電器等裝置。采用進(jìn)口觸摸屏控制器，溫度及時(shí)間可以多段編程控制，可任意設(shè)計(jì)溫度及時(shí)間并自行執(zhí)行。

A:控制系統(tǒng):

溫度控制器:7寸背光顯示觸控式PLC可程式控制器，

分辨率:800x480，65535真彩色。

B:控制器規(guī)格:

分辨率:溫度±0.01

溫度斜率:0.1~9.9可設(shè)定.

具有上下限待機(jī)及警報(bào)功能.

溫度入力信號(hào) PT100.

C:畫面顯示功能:

溫度設(shè)定(SV)與實(shí)際(PV)值直接顯示

可顯示目前執(zhí)行程序號(hào)碼,段次,剩余時(shí)間及循環(huán)次數(shù)

運(yùn)轉(zhuǎn)累計(jì)時(shí)間功能

具有單獨(dú)程序編輯畫面。

屏幕顯示保護(hù)功能可作定時(shí)，TIMER或手動(dòng)關(guān)閉設(shè)定.

D:程序容量及控制功能:

可使用的程序組:最大100組，10000段

可重復(fù)執(zhí)行命令，每個(gè)命令可達(dá)32000次循環(huán)。

定值時(shí)間設(shè)定0~999999Hour59Min(也可設(shè)定無(wú)時(shí)間限制)

具R485通訊接口配免費(fèi)測(cè)試軟件

開(kāi)放的通訊協(xié)議,可嵌入至用戶設(shè)備系統(tǒng)，統(tǒng)一數(shù)據(jù)管理,測(cè)試等.

具有約600天歷史數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，記錄間隔約1min，記錄間隔越大存儲(chǔ)時(shí)間越長(zhǎng)。

USB2.0接口試驗(yàn)數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能。

U盤存儲(chǔ)，可插U盤下載歷史曲線，歷史數(shù)據(jù)等

具有可實(shí)時(shí)顯示圖形曲線.

具有溫度值修正功能

具有預(yù)約啟動(dòng)及關(guān)機(jī)功能.

具有實(shí)驗(yàn)暫定功能。

具有停電記憶功能，具有斷電程序記憶,復(fù)電后自動(dòng)啟動(dòng)并接續(xù)執(zhí)行程序功能.

具有日期,時(shí)間調(diào)整功能.

步入式高溫老化試驗(yàn)房性能參數(shù)：

用途：電子產(chǎn)品高溫老化房又名老化試驗(yàn)室、燒機(jī)室，是針對(duì)高性能電子產(chǎn)品做負(fù)載或溫度老化測(cè)試的一種設(shè)備，此設(shè)備外框架構(gòu)采用保溫庫(kù)板隔間組合而成，配上主配電箱、測(cè)試架、溫度控制器、定時(shí)器、各種電器開(kāi)關(guān)、加溫電熱器、盤架、拉門、循環(huán)風(fēng)機(jī)、排風(fēng)機(jī)、插座等設(shè)備模擬出一種高溫、惡劣環(huán)境（40℃ -70℃±5℃、電源ON-OFF動(dòng)作等），讓產(chǎn)品在此環(huán)境中接上模擬負(fù)載通電運(yùn)作，測(cè)試時(shí)間可在0-99.9小時(shí)內(nèi)任意設(shè)定，通過(guò)此測(cè)試程序可查出不良品或不良零件。

試驗(yàn)限制：本試驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)；儲(chǔ)存腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)、儲(chǔ)存生物的試驗(yàn)、儲(chǔ)存強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)及儲(chǔ)存。