產(chǎn)品名稱： 高低溫交變?cè)囼?yàn)箱/高低溫試驗(yàn)機(jī)/高低溫箱/高低溫試驗(yàn)箱（High and low temperature test chamber）

高低溫交變?cè)囼?yàn)箱產(chǎn)品用途：（Alternating high and low temperature test box product use）

本產(chǎn)品用于高、低溫的可靠性試驗(yàn)。對(duì)電子電工、汽車摩托、航空航天、橡膠、塑膠、金屬、船舶兵器、高等院校、科研單位等相關(guān)產(chǎn)品的零部件及材料在高、低溫變化的情況下,檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。（For the high, low temperature test the reliability of the product. Spare parts and materials for electronics, motor vehicle, aviation, rubber, plastic, metal, ship weapon, universities, research institutions and other related products in the high, low temperature changes, test its performance.）

高低溫交變?cè)囼?yàn)箱驗(yàn)收及執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：（Alternating high and low temperature test box acceptance and implementation of standards:）

GB/T2423.1—2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》  試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

（GB/T2423.1 - 2001 "basic environmental testing procedures for electric and electronic products" test: Test Method for low temperature A）

GB/T2423.2—2001《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》  試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

（GB/T2423.2 - 2001 "basic environmental testing procedures for electric and electronic products" test B: high temperature test method）

GB/T2423.4—1993《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》 試驗(yàn)Db：交變溫度試驗(yàn)方法

（GB/T2423.4 - 1993 "basic environmental testing procedures for electric and electronic products" test Db: Test Method for alternating temperature）

GB-10592-89高低溫交變?cè)囼?yàn)箱設(shè)備是按照下列標(biāo)準(zhǔn)之一或其結(jié)合為依據(jù)而制造的:

( GB-10592-89 alternating high and low temperature test box equipment is in accordance with the following criteria one or the combination of manufacturing as the basis:)

GB 10589-89 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

(Technical conditions of GB 10589-89 low temperature test box)

GB 10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

(Technical conditions of GB 10592-89 high low temperature test box)

GB 11158-89 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

(Technical conditions of GB 11158-89 high temperature test box)

GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

(Inspection methods for basic parameters of environmental testing equipments for electric and electronic products GB/T5170.2-1996 temperature testing equipment)

GB2423.22-87 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法

(GB2423.22-87 electronic basic testing procedures for testing N: change of temperature test method)

GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

(GB2423.1-89 electronic basic testing procedures for testing A: low temperature test method)

GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

(Test methods for basic testing procedures for electric and electronic products test B: high temperature GB2423.2-89)

GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

(GB2424.1-89 basic environmental testing procedures for electric and electronic products of high temperature and low temperature test guidelines)

DIN50017-1982符合凝露人工氣候試驗(yàn)(DIN50017-1982 with gel artificial weathering tests)

高低溫交變?cè)囼?yàn)箱箱體結(jié)構(gòu)特點(diǎn) ：

(Structure characteristics of alternating high and low temperature test box)

箱體采用數(shù)控機(jī)床加工成型，造型美觀大方，并采用無反作用把手，操作簡(jiǎn)便。
箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口高級(jí)不銹鋼（SUS304）鏡面板，箱體外膽采用A3鋼板噴塑，增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。
大型觀測(cè)視窗附照明燈保持箱內(nèi)明亮，且利用發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃，隨時(shí)清晰的觀測(cè)箱內(nèi)狀況。

箱體左側(cè)配直徑50mm的測(cè)試孔，可供外接測(cè)試電源線或信號(hào)線使用。

高低溫交變?cè)囼?yàn)箱控制器：

(Alternating high and low temperature test box controller:)

 溫度控制采用全進(jìn)口觸摸按鍵式儀表，操作設(shè)定簡(jiǎn)單。
資料及試驗(yàn)條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。具有P.I.D自動(dòng)演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。電器控制主件采用進(jìn)口“施耐德”及“梅蘭日蘭”元件，更好地控制溫度可選配打印機(jī)和接電腦。

高低溫交變?cè)囼?yàn)箱制冷系統(tǒng)：(Alternating high and low temperature test box refrigeration system:))

制冷機(jī)采用法國(guó)原裝“泰康”全封閉壓縮機(jī)。
美國(guó)“艾高”干燥過濾器，中國(guó)臺(tái)灣“冠亞”油分離器，意大利“卡士妥”電磁閥
冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計(jì)。
采用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測(cè)試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。
風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計(jì)，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時(shí)間快。
升溫、降溫、系統(tǒng)*獨(dú)立可提高效率，降低測(cè)試成本，增長(zhǎng)壽命，減低故障率。

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電  話：

：吳 芳

手  機(jī)：

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