精密陶瓷密度測試儀DE-120PC 、DA-300PC 、DA-600PC
Ceramic density tester

精密陶瓷密度測試儀適用于：精密陶瓷工業(yè)、粉末冶金、磁性材料、煤與巖石、新材料研究驗室

依據(jù)：ASTM C20、C134、C373、C329、GB/T3810、1966、2413、2834、5165、23561、ISO 2737、ISO 2738 …等標(biāo)準(zhǔn)。

方法：采用阿基米得原理，依多孔與閉孔特性和標(biāo)準(zhǔn)選擇，固體型通用測試法、煮沸飽和法、浸漬飽和法、真空飽和法、表面封蠟覆蓋法、表面凡士林覆蓋法。

可快速測量密度與孔隙率，測量快速、精準(zhǔn)、方便！非常適合耐火砝、異型砝、壓電陶瓷…等產(chǎn)品的密度檢測。

視孔隙率測量理論：是用來測量與外部相通的孔隙率。此可決定陶瓷與其它制品的滲透性，即氣體或流體通過的難易程度。

總孔隙率測量理論：是包括外通孔隙及密閉的孔隙率，總孔隙率與制品之間有較佳的關(guān)聯(lián)。如精密陶瓷要求盡量減少毛孔數(shù)。因為材料的毛孔影響精密陶瓷的強度甚巨；影響主要因素為毛孔導(dǎo)致應(yīng)力集中；毛孔的大?。恍螤詈蛿?shù)量將減少陶瓷強度；表面缺陷；內(nèi)部缺陷。

密度：在一定情況下，孔隙率的大小決定了密度高與低，也作為燒結(jié)體致密化程度的重要依據(jù)，視孔隙率與總孔隙率是開孔體積、開閉孔體積與總體積之比，相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)都是以阿阿基米得原理浮力法測量體積，故通常陶瓷制品是以【體密度、視密度、視孔隙率、總孔隙率、吸水率】為其主要測量標(biāo)準(zhǔn)。

詳細(xì)技術(shù)參數(shù)：
1、型號：    DE-120PC                 DA-300PC             DA-600PC
2、密度解析：0.0001 g/cm3             0.001 g/cm3          0.001 g/cm3 
3、zui大稱重：120g                     300g                  600g
4、zui小稱重：0.001g                   0.005g               0.005g
5、測量范圍：0.0001—99.9999g/cm3    0.001—99.999g/cm3    0.001—99.999g/cm3 
6、孔隙率：  0.01%                    0.1%                  0.1%

可測量項目：
1、體密度、視密度、濕密度、總體積、開孔體積、閉孔體積
2、顯氣孔率（開孔率）、總孔隙率、閉孔隙率、吸水率
3、粉末的真密度
4、粉末的表觀密度與松裝密度計算
5、其它不吸水性固體密度

主要特點：
1、任何陶瓷皆能測量，不受限制
2、Free Flip免掀蓋操作方式、操作更簡便、更快速、更符合新材料實驗室作業(yè)規(guī)范
3、快速直讀孔隙率、總孔隙、閉孔隙率、密度、體積
4、全自動零點跟蹤、蜂鳴器報警、超載報警功能
5、使用水作介質(zhì)，也可使用其它液體介質(zhì)
6、具有實際水溫設(shè)定、測量介質(zhì)密度設(shè)定、防水處理介質(zhì)密度設(shè)定、空氣浮力補償設(shè)定、密度上下限設(shè)定功能
7、采用一體成形大容量測量配件，水槽防腐蝕、耐摔、耐破
8、配置防風(fēng)防塵罩，組合方便、堅固
9、含RS-232C通信接口，方便連接PC與打印機(jī)，可選購DE-40打印機(jī)打印測量數(shù)據(jù)

代表產(chǎn)品：
電阻電容芯、電子絕緣材料、氧化鋯、氧化鋁、氧化硅、氮化硅、碳化硅、多孔陶瓷、工程陶瓷、納米陶瓷、陶瓷片、陶瓷磚、日用陶瓷、建筑陶瓷、工藝陶瓷等產(chǎn)品…等代表產(chǎn)品。

不吸水性產(chǎn)品測量步驟：
①將產(chǎn)品放入測量臺，測空氣中重量，按ENTER鍵記憶。
②將產(chǎn)品放入水中測水中重量，按ENTER鍵記憶，顯示密度值。

吸水性產(chǎn)品測量步驟（多孔性物質(zhì)產(chǎn)品）：
①將產(chǎn)品放入測量臺，測空氣中重量，按ENTER鍵記憶。
②將產(chǎn)品處水處理后，放入測量臺測防水處理后空氣中的重量，按ENTER鍵記憶。
③將產(chǎn)品放入水中測防水處理后的水中重量，按ENTER鍵記憶，顯示密度值。

標(biāo)準(zhǔn)附件：
①主機(jī)、②水槽、③測量臺、④鑷子、⑤溫度計、⑥砝碼、⑦防風(fēng)防塵罩、⑧測顆粒配件一套、⑨測浮體配件一套、⑩電源變壓器一個

編輯：lcl 15.8