產(chǎn)品名稱：電化學(xué)工作站       
產(chǎn)品型號：CS150      
  
儀器資料： 
  

    CS系列電化學(xué)工作站由高速MCU、高精度FET集成電路組成，內(nèi)置DDS數(shù)字信號合成器、高功率恒電位/恒電流儀、雙通道相關(guān)分析器和雙通道高速16bit /高精度24bit AD轉(zhuǎn)換器。能完成線性掃描伏安（LSV）、循環(huán)伏安（CV）、階梯波循環(huán)伏安（SCV）、方波循環(huán)伏安（SWV）、差分脈沖伏安（DPV）和常規(guī)脈沖伏安（NPV）以及差分常規(guī)脈沖伏安（DNPV）等電分析方法；還可以完成恒電流（位）極化、動電位（流）掃描、任意恒電流（位）方波，多恒電流（位）階躍、零電阻電流計、電化學(xué)噪聲（電偶電流）、電化學(xué)阻抗（EIS）等電化學(xué)測試等功能，所有測量功能均可定時自動進行，用于無人值守下的自動測量。
     CS系列包括多種型號，可用于較大電流和較高槽壓的電化學(xué)測量和應(yīng)用，例如電池、電分析、腐蝕、電解、電鍍等。儀器的電流輸出范圍為±2A，槽壓為±21V。電壓控制范圍：±10V；電流控制范圍：±2.0A；電流測量下限為10pA。
     CorrTest測試軟件是CS的控制平臺，軟件基于Windows98/ 2000/ XP操作系統(tǒng)，并遵守Windows軟件設(shè)計規(guī)則，易于安裝和使用。軟件包括文件管理、實驗方法管理、多坐標(biāo)圖形顯示和縮放、數(shù)據(jù)/圖形的存貯/打印以及交互式幫助等。軟件具有良好的用戶界面，命令窗口所用的詞匯與通用的電化學(xué)術(shù)語保持*，全中文菜單和界面，方便用戶的教學(xué)和科研工作。
     CorrTest測試軟件還具有特別針對材料和腐蝕電化學(xué)的實驗方法，包括鈍化曲線自動或人工反掃，電化學(xué)再活化法，溶液電阻（IR降）測量和補償法。Corrtest分析軟件則具有完善的數(shù)據(jù)分析功能，可對伏安曲線進行數(shù)字平滑、積分、微分運算，能對極化曲線進行電化學(xué)參數(shù)解析，包括極化電阻Rp，Tafel斜率ba、bc，腐蝕電流密度icorr，腐蝕速率計算等，還可計算噪聲電阻Rn和功率譜，并可將圖形以矢量方式拷貝到Microsoft Word 文檔中。
     CS系列全部采用USB2.0接口與計算機通訊，設(shè)備安裝簡單，即插即用。
     外形尺寸：36.5cm（寬）x30.5cm（深）x16cm（高）     儀器重量：6.5Kg
主要技術(shù)指標(biāo)
   1） 硬件參數(shù)指標(biāo)
     恒電位電位控制范圍：±10V                      CV 和LSV掃描速度：0.01～10000V/s
     恒電流控制范圍：±2.0A                           CA和CC脈沖寬度：0.0001～65000s
     電位控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)±1mV    電流掃描增量：1mA @1A/mS
     電流控制精度：0.1%×滿量程讀數(shù)              電位掃描時電位增量：0.1mV @1V/mS
     電位分辨率：10uV （>100Hz）                   SWV頻率：0.001～100KHz
                       3uV （<10Hz）                       DPV和NPV脈沖寬度：0.0001～1000s
     電流靈敏度：10pA                                   AD數(shù)據(jù)采集：16bit @1MHz, 20bit @1KHz
     電位上升時間：<1uS（<10mA）                  DA分辨率：16bit, 建立時間：1uS 
                          <10uS（<2A）                     CV的zui小電位增量：0.075mV
     參比電極輸入阻抗：1012歐姆||20F            低通濾波器：8段可編程
     電流量程：2A～200nA, 共8檔                   電流與電位量程：自動設(shè)置
     槽壓：±21V                                           接口通訊模式：USB2.0
     zui大輸出電流：2.0A           

   2） CorrTestTM測量與控制軟件主要功能
     腐蝕測量
     開路電位測量（OCP）                           循環(huán)極化曲線（依擊穿電流回掃）  
     恒電位極化                                           動電流掃描
     恒電流極化（計時電位法,CP）                 電化學(xué)噪聲測量
     動電位掃描（Tafel極化曲線）                  電偶腐蝕測量（零阻電流計）
     線性極化曲線（LPR）                     
     氫滲透監(jiān)測* （氫滲透測試中主動式充氫需要另行配置CS1001A精密恒流源使用）
     伏安分析
     線性掃描伏安法（LSV）                         循環(huán)伏安法（CV）
     暫態(tài)極化
     任意恒電位方波                                    多電位階躍（VSTEP）
     恒電流方波                                          多電流階躍（ISTEP）
     擴展功能
     電池充放電測試                                    自動定時測量
     IR降測量                                             數(shù)字記錄儀
應(yīng)用領(lǐng)域
     1） 研究電化學(xué)機理；物質(zhì)的定性定量分析；                                                 
     2） 常規(guī)電化學(xué)測試，包括電合成、電鍍和電池性能評價；
     3） 功能材料和能源材料的機理和制備研究；
     4） 緩蝕劑、水質(zhì)穩(wěn)定劑、涂層以及陰極保護效率快速評價以及氫滲測試等；
     5） 金屬材料在導(dǎo)電性介質(zhì)（包括水/混凝土/土壤等環(huán)境）中的腐蝕電化學(xué)測試。
系統(tǒng)配置
     1） 儀器主機1臺
     2） CorrTest測試與分析軟件1套
     3） 鉑金電極、參比電極、工作電極及電解池各1支（套）
     4） 模擬電解池1個
     5） USB數(shù)據(jù)線1條
     6） 電極電纜線/噪聲測量電纜線1組
     7） 電極架（選配*）
     8） 屏蔽箱（選配*）