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詳細(xì)介紹
紫外線照度計(jì)適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。紫外輻照計(jì)有兩個(gè)測(cè)量探頭365nm探頭和420nm探頭，每臺(tái)儀器的探*和儀器號(hào)是一一對(duì)應(yīng)的,不能將不同儀器的探頭互換使用。
紫外線照度計(jì)技術(shù)參數(shù)：1、輻照度測(cè)量范圍：(0.1～199.9×103)μW/cm2
2、外帶外區(qū)雜光：UV365:小于0.02％；UV420：小于0.02％
3、準(zhǔn)確度：±10％ (相對(duì)于NIM 標(biāo)準(zhǔn))
4、角度響應(yīng)特性：符合國(guó)家二級(jí)光照度計(jì)標(biāo)準(zhǔn)
5、響應(yīng)時(shí)間：1 秒
6、使用環(huán)境：溫度(0～40)℃；濕度<85%RH
7、尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg
8、電源：6F22 型9V 積層電池一只
9、波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng)：
（1）UV－365 探頭：（光譜響應(yīng)曲線見圖） λ：(320～400)nm；λP＝365nm
（2）UV－420 探頭：（光譜響應(yīng)曲線見圖） λ：(375～475)nm；λP＝420nm
UV-A型紫外輻照計(jì)(單通道) ,紫外輻照計(jì),適用于光化學(xué)、高分子材料老化、探傷、紫外光源、植物栽培、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。紫外輻照計(jì)有兩個(gè)測(cè)量探頭365nm探頭和420nm探頭，每臺(tái)儀器的探*和儀器號(hào)是一一對(duì)應(yīng)的,不能將不同儀器的探頭互換使用。