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| Delong America Inc. 榮譽出品
LVEM5臺式透射電子顯微鏡（Bench-top TEM）
• 小型臺式透射電子顯微鏡（TEM） • 多用途臺式電子顯微鏡 • 透射電鏡（TEM）、電子衍射（ED）、掃描電鏡（SEM）、掃描透射電鏡（STEM）四種成像模式 • 分辨率：1.5nm（TEM）；10nm（SEM） • Schottky場發(fā)射電子槍：高亮度、高對比度 • 觀察生物樣品無需染色 • 體積僅為傳統(tǒng)透射電鏡1/10，操作維護(hù)簡單
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臺式設(shè)計：體積小巧，靈活性高，價格低
傳統(tǒng)透射電子顯微鏡體積龐大，對放置環(huán)境有著嚴(yán)格的要求，并且需要制冷機(jī)等外置設(shè)備。通常會占據(jù)整間實驗室。 LVEM5從根本上區(qū)別于傳統(tǒng)電鏡，尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%，對放置環(huán)境無嚴(yán)格要求，無需任何外置冷卻設(shè)備，可以安裝用戶所需的任意實驗室或辦公室桌面。價格僅為傳統(tǒng)電鏡的1/5，性價比很高。 | |
Schottky場發(fā)射電子槍：高亮度/高對比度
電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數(shù)。LVEM5采用殊設(shè)計的倒置肖基（Schottky）場發(fā)射電子槍，提供高亮度高相干的電子束。電子槍使用壽命可達(dá)2000小時以上。
傳統(tǒng)TEM多采用100kV以上電子束加速電壓，高能電子束不能區(qū)分輕材料中相近的密度和原子序數(shù)，對于輕元素樣品（C、N、O樣品，生物樣品）難以獲得好的對比度，影響圖像質(zhì)量。
LVEM5采用5kV低電壓設(shè)計，低電壓電子束對密度和原子序數(shù)有很高的靈敏度，對于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對比度。例如，對20nm碳膜樣品，5KV電壓下比100KV電壓下對比度提高10倍以上。而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達(dá)到2nm。
未經(jīng)染色的老鼠心臟切片在80kV透射電鏡下得到的圖像，與LVEM5下得到的圖像。
LVEM5采用5kV低加速電壓，圖像具有更好的對比度
TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式
| TEM模式 | SEM模式 | ||
LVEM5是上*的臺式透射電子顯微鏡，同時也是*的低加速電壓（5kV）透射電鏡。同傳統(tǒng)透射電鏡（80-200kV）相比，增加了電子束與樣品的相互作用，從而提高了圖像對比度 ? 提高了圖像對比度 ? 需重金屬染色即可觀察輕元素樣品（如生物樣品） ? 避免染色造成的假象，觀察樣品真實結(jié)構(gòu) ? 分辨率2nm，放大倍數(shù) 5000-202,000x，圖像采集：2048 x 2048
| 掃描電鏡（SEM）模式可用于觀察任意固體樣品。在SEM模式下，LVEM5采用4分割背散射探測器，提供多個觀測角度。 普通掃描電鏡在觀察不導(dǎo)電樣品時，需要對樣品進(jìn)行噴金、噴碳處理，以增加樣品導(dǎo)電性。LVEM5的另點在于，無需噴金可直接觀測不導(dǎo)電樣品。 分辨率3nm，放大倍數(shù) 640x - 1,000,000x，圖像采集：2048 x 2048
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| STEM模式 | ED模式 | ||
在掃描透射電子顯微（STEM）模式下，電子束被聚焦到很小直徑，在樣品上進(jìn)行掃描。可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品 | 電子衍射（ED）可用于確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)、結(jié)晶度、相組成。
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操作簡單，換樣快捷，成本低廉
LVEM5直觀的用戶界面、簡便的控制臺設(shè)計，使用戶僅需少的培訓(xùn)，即可輕松操作。讓用戶在使用時更加舒適。
不同于傳統(tǒng)透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時間，LVEM5更換樣品僅需3min，節(jié)省大量時間。
LVEM5*購置費用僅為傳統(tǒng)電鏡的1/5左右，且在款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能，真正的物超所值。LVEM5*的設(shè)計勢，在使用中無需冷卻水，無需業(yè)實驗室，維持成本低。
測試數(shù)據(jù)展示
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| TEM：細(xì)胞器 | ED：ZnO單晶 |
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| STEM：聚乙烯單晶 | SEM：水凝膠? |
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用戶列表
LVEM5已擁有麻省理工、加州大學(xué)、喬治亞理工、慕尼黑大學(xué)、曼徹斯大學(xué)等50多個用戶。異的性能為LVEM5贏得了用戶的片贊譽。
