小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀-μ-X360J
— 滿(mǎn)足日本標(biāo)準(zhǔn)JSMS-SD-14-20
小而輕的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀 日本Pulstec公司制造 型號(hào):μ-X360s
X射線是表面殘余應(yīng)力測(cè)定技術(shù)中為數(shù)不多的無(wú)損檢測(cè)法之,是根據(jù)材料或制品晶面間距的變化測(cè)定應(yīng)力的,至今仍然是研究得較為廣泛、深入、成熟的殘余應(yīng)力分析和檢測(cè)方法之,被廣泛的應(yīng)用于科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)的各域。2012年日本Pulstec公司開(kāi)發(fā)出基于全二維探測(cè)器技術(shù)的新代X射線殘余應(yīng)力分析儀——μ-X360n,將用X射線研究殘余應(yīng)力的測(cè)量速度和精度推到了個(gè)全新的高度,設(shè)備推出不久便得到業(yè)界好評(píng)。由于其技術(shù)之進(jìn)、測(cè)試數(shù)據(jù)可重復(fù)性之高、使用之便攜,設(shè)備經(jīng)推出便備受業(yè)界青睞!
近期,日本Pulstec公司成功克服技術(shù)難點(diǎn),繼μ-X360n,μ-X360s之后又發(fā)布了新的產(chǎn)品型號(hào):μ-X360J,將全二維面探測(cè)器技術(shù)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能完善再次升!
產(chǎn)品點(diǎn):
相較于傳統(tǒng)的X射線殘余應(yīng)力測(cè)定儀,基于全二維探測(cè)器技術(shù)的μ-X360系列具有以下優(yōu)點(diǎn):
更快速:二維探測(cè)器次性采集獲取完整德拜環(huán),單角度次入射即可完成測(cè)量。
更準(zhǔn)確:次測(cè)量可獲得500個(gè)衍射峰進(jìn)行殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)擬合,結(jié)果更準(zhǔn)確。
更輕松:無(wú)需測(cè)角儀,單角度次入射即可,復(fù)雜形狀和狹窄空間的測(cè)量不再困難。
更方便:無(wú)需任何液體冷卻裝置,支持便攜電池供電。
更強(qiáng)大:具備區(qū)域應(yīng)力測(cè)量功能,晶粒均勻性、材料織構(gòu)、殘余奧氏體分析等功能。
基本參數(shù): | |
準(zhǔn)直器尺寸 | 標(biāo)配:直徑1mm(其他尺寸可選) |
X射線管參數(shù) | μ-X360s:30KV 1.5mA;μ-X360J:30KV 1.6m |
X射線管所用靶材 | 標(biāo)配:鉻靶(可選配其他) |
是否需要冷卻水 | 無(wú)需 |
是否需要測(cè)角儀 | 無(wú)需 |
X射線入射角度 | 單入射角即可獲取全部數(shù)據(jù) |
所用探測(cè)器 | 二維探測(cè)器 |
直接測(cè)量參數(shù) | 殘余應(yīng)力 衍射峰的半峰高全寬 |
電源參數(shù) | 130W功率 110-240V 50-60HZ |
可否戶(hù)外現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè) | 設(shè)備便攜、支持便攜電池供電 |
晶粒取向分析 | 晶粒均勻性分析 |
應(yīng)用域:
1. 機(jī)械加工域:測(cè)量機(jī)床、焊接、鑄造、鍛壓、裂紋等構(gòu)件的殘余應(yīng)力。
2. 冶金行業(yè):測(cè)量熱壓、冷壓、煉鐵、煉鋼、煉鑄等工業(yè)生產(chǎn)構(gòu)件的殘余應(yīng)力。
3. 各種零配件制造:測(cè)量電站汽輪機(jī)制造、發(fā)動(dòng)機(jī)制造、油缸、壓力容器、管道、陶瓷、裝配、螺栓、彈簧、齒輪、軸承、軋輥、曲軸、活塞銷(xiāo)、萬(wàn)向節(jié)、機(jī)軸、葉片、刀具等工業(yè)產(chǎn)品的殘余應(yīng)力。
4. 表面改性處理:測(cè)量滲氮、滲碳、碳氮共滲、淬火、硬化處理、噴丸、振動(dòng)沖擊、擠壓、滾壓、金剛石碾壓、切削、磨削、車(chē)(銑)、機(jī)械拋光、電拋光等工藝處理后構(gòu)件中的殘余應(yīng)力。
5. 民生基礎(chǔ)建設(shè)域:
(1)海洋域:測(cè)量船舶、海洋、石油、化工、起重、運(yùn)輸、港口等域設(shè)備和設(shè)施的殘余應(yīng)力。
(2)能源域:測(cè)量核工業(yè)、電力(水水電、熱電核電)、水工程、天然氣工程等域的設(shè)備和設(shè)施的殘余應(yīng)力。
(3)基礎(chǔ)建設(shè)工程域:測(cè)量挖掘、橋梁、汽車(chē)、鐵路、航空航天、交通、鋼結(jié)構(gòu)等工程域所用材料、構(gòu)件及其它相關(guān)設(shè)備設(shè)施的殘余應(yīng)力。
6. 國(guó)防jun工域:測(cè)量wuqi裝備、重型裝備等產(chǎn)品的殘余應(yīng)力。
測(cè)試原理概述:
全二維面探測(cè)器技術(shù)
--單角度次入射后,用二維探測(cè)器獲得完整德拜環(huán)。通過(guò)比較沒(méi)有應(yīng)力時(shí)的德拜環(huán)和有應(yīng)力狀態(tài)下的變形德拜環(huán)的差別來(lái)計(jì)算應(yīng)力下晶面間距的變化以及對(duì)應(yīng)的應(yīng)力
--施加應(yīng)力后,分析單次入射前后德拜環(huán)的變化,即可通過(guò)殘余應(yīng)力分析軟件獲得殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)
應(yīng)用軟件:
1. 采用全二維面探測(cè)器獲取完整德拜環(huán),X射線單角度次入射即可完成應(yīng)力測(cè)量
2. 全自動(dòng)軟件測(cè)量殘余應(yīng)力并可顯示出半峰寬數(shù)值
3. 內(nèi)在定位標(biāo)記和CCD相機(jī)方便樣品定位,操作其簡(jiǎn)單快捷
4. 快捷進(jìn)入預(yù)設(shè)各種材料測(cè)量條件,鍵執(zhí)行測(cè)量
設(shè)備選件
1. 殘留奧氏體分析
用于提供自動(dòng)計(jì)算剩余奧氏體含量的軟件分析功能
2. XY掃描控制臺(tái)
用于在平面內(nèi)X方向和Y方向準(zhǔn)確調(diào)節(jié)探測(cè)器位置,并對(duì)樣品表面進(jìn)行殘余應(yīng)力區(qū)域測(cè)試,X、Y方向的行程為20cm(15cm可選)
3. 電解拋光裝置
用電化學(xué)腐蝕的方法對(duì)金屬表面做剝層處理
4. 振蕩單元裝置
用于粗晶樣品殘余應(yīng)力測(cè)試
5.多種靶材可供選擇
用戶(hù)可以自己更換X射線靶材以滿(mǎn)足更廣的測(cè)試材料需求,可換靶材包括:Cr,V,Cu,Co,Mn
應(yīng)用案例
殘余應(yīng)力直接影響金屬制品的疲勞強(qiáng)度、抗應(yīng)力、腐蝕能力、尺寸穩(wěn)定性和使用壽命,因此在工業(yè)和軍事等部門(mén)受到普遍重視。基于全二維探測(cè)器分析方法的新代殘余應(yīng)力分析儀不僅精度更高,而且不再需要測(cè)角儀、不再需要多個(gè)入射角才能完成測(cè)量、不再需要冷水機(jī),因此將很大改善了復(fù)雜形狀部件檢測(cè)、狹窄空間檢測(cè)、野外工程現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)、大面積部件檢測(cè)等測(cè)量的難度,具有更廣泛的應(yīng)用。在實(shí)驗(yàn)室內(nèi),基于全二維探測(cè)器分析方法的便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀可以用來(lái)檢測(cè)焊接處疲勞,齒輪,圓棒,角焊縫,機(jī)軸狹窄區(qū),彈簧等;在戶(hù)外工程中,它可以用來(lái)檢測(cè)管道焊縫,油罐焊縫,除掉外層水泥的建筑內(nèi)層,橋梁金屬,高速鐵軌等。
■ 實(shí)驗(yàn)室內(nèi)輕松勝任各種部件檢測(cè) — —快速、高精度、復(fù)雜形狀全面分析
■ 戶(hù)外工程現(xiàn)場(chǎng)原位殘余應(yīng)力應(yīng)力檢測(cè)— —變得如此簡(jiǎn)單
可裝便攜箱,整機(jī)重約8.8公斤,單手可攜帶
設(shè)備體積小巧,可現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)龐大物體
無(wú)需測(cè)角儀,個(gè)入射角完成全部測(cè)量,現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量不再受空間限制
電池即可支持工作
(a)橋梁檢測(cè) (b)輥軸檢測(cè) (c)油罐焊縫檢測(cè)
■ 噴丸域應(yīng)用
近日,Yuji Kobayashi博士在噴丸工藝制備的應(yīng)力標(biāo)樣基礎(chǔ)上,比較了sin2Ψ和cosα兩種殘余應(yīng)力分析方法下所測(cè)得的殘余應(yīng)力測(cè)試數(shù)據(jù),進(jìn)步驗(yàn)證了基于全二維面探技術(shù)的cosα殘余應(yīng)力分析方法測(cè)試結(jié)果的可靠性,相關(guān)結(jié)果已發(fā)表在雜志《The Shot Peener》上,詳見(jiàn):Summer 2019,Volume 33, Issue 3 | ISSN 1069-2010。文章中所采用的基于全二維面探技術(shù)的殘余應(yīng)力測(cè)試設(shè)備為日本Pulstec公司制造的型號(hào)為μ-X360s的新代便攜式X射線殘余應(yīng)力分析儀。該設(shè)備將全二維面探測(cè)器技術(shù)的產(chǎn)品設(shè)計(jì)和功能再次完善升。相比于傳統(tǒng)X射線殘余應(yīng)力測(cè)定儀,該設(shè)備具有更快速的測(cè)量時(shí)間(二維探測(cè)器次性采集獲取完整德拜環(huán),單角度次入射即可完成測(cè)量,全過(guò)程平均約60秒),更準(zhǔn)確的測(cè)試結(jié)果(次測(cè)量可獲得500個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)進(jìn)行殘余應(yīng)力數(shù)據(jù)擬合,結(jié)果更準(zhǔn)確),更便的測(cè)試條件(測(cè)量精度高,無(wú)需冷卻水),以及更強(qiáng)大的測(cè)試功能(具備區(qū)域應(yīng)力自動(dòng)測(cè)量功能,晶粒大小、材料織構(gòu)、殘余奧氏體分析等功能),深受機(jī)械加工、民生基礎(chǔ)建設(shè)、國(guó)防jun工等域廣大同行的青睞。
案例導(dǎo)圖:
基于全二維面探測(cè)器技術(shù)獲得的德拜環(huán)衍射圖像
Yuji Kobayashi博士用到的應(yīng)力標(biāo)樣
以上圖片來(lái)源:《The Shot Peener》Summer 2019,Volume 33, Issue 3 | ISSN 1069-2010
■ 三維應(yīng)力分析及用
目前已經(jīng)有越來(lái)越多的同行家和學(xué)者開(kāi)始對(duì)μ-X360系列以及該設(shè)備所采用的的方法感興趣。尤其,基于cosα方法的殘余應(yīng)力分析儀設(shè)備因?yàn)橐苿?dòng)方便,使得對(duì)滾動(dòng)接觸疲勞進(jìn)行原位評(píng)估成為可能。Takumi Fujita等人的工作表明[1]:基于德拜環(huán)的應(yīng)力分析儀跟傳統(tǒng)的X射線衍射應(yīng)力分析儀相比,可快速獲得疲勞、斷裂準(zhǔn)則、裂紋萌生以及滾動(dòng)接觸次表面安定限等信息;而且,該系統(tǒng)不僅可以用來(lái)研究滾動(dòng)接觸疲勞機(jī)理還可對(duì)滾動(dòng)接觸疲勞的演變程度進(jìn)行定量評(píng)估。Takumi Fujita等人發(fā)表的文章中,關(guān)于三維應(yīng)力測(cè)量及德拜環(huán)測(cè)量所采用的設(shè)備就是日本Pulstec公司制造的型號(hào)為μ-X360的X射線殘余應(yīng)力分析儀設(shè)備。
參考文獻(xiàn)
[1]. Evaluation of Rolling Contact Fatigue Using X-Ray Diffraction Ring, Materials Performance and Characterization, 2016.5.1,pp23-37.
測(cè)試數(shù)據(jù)
■ 無(wú)應(yīng)力鐵粉的殘余應(yīng)力測(cè)試結(jié)果
■ 鈦合金( TC4 )殘余應(yīng)力測(cè)試結(jié)果:內(nèi)孔位置原位測(cè)量
發(fā)表文章
1. K. Ito et al. / Materials and Design 61 (2014) 275-280
2. J.-S. Wang et al. / Materials Characterization 99 (2015) 248–253
3. R. Gadallah et al. / Marine Structures 44 (2015) 232e253
4. J.S. Robinson, W. Redington / Materials Characterization 105 (2015) 47–55
5. K. Sugimoto et al. / International Journal of Fatigue, Volume 100, Part 1, July 2017, Pages 206-214
6. N. Karunathilaka et al. / Metals 2019, 9, 783
7. R. Hajavifard et al. / Materials 2019, 12, 1646
8. M. Knyazeva et al. / Materials 2018, 11, 2290
用戶(hù)單位:
清華大學(xué)
上海交通大學(xué)
天津大學(xué)
山東大學(xué)
東北大學(xué)
北京科技大學(xué)
北京交通大學(xué)
西南交通大學(xué)
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