三維微晶電子衍射儀——ELDICO ED-1
——開創(chuàng)性的電子束與高精度旋轉(zhuǎn)設(shè)計,適用于研究粒徑小于1000 nm的晶體樣品
ELDICO Scientific AG(the Electron Diffraction Company,以下簡稱ELDICO公司)是一家成立于2019年的瑞士儀器公司,其生產(chǎn)的ED-1三維微晶電子衍射儀可用于新材料結(jié)構(gòu)解析,解決微納晶體材料結(jié)構(gòu)解析的難題。相較于傳統(tǒng)方法(X射線衍射手段)需要更大的晶體尺寸(>10μm),ED-1三維微晶電子衍射儀可探測納米級(<1000nm)尺寸的微晶樣品。由于其在微晶解析中的特殊貢獻,2018年蘇黎世聯(lián)邦理工學(xué)院(ETH Zurich, C-CINA Basel)發(fā)表在《應(yīng)用化學(xué)》國際版(Angewandte Chemie, International Edition)的電子衍射用于微晶測量的理論和驗證引起了廣泛關(guān)注,并且被SCIENCE雜志評選為2018年技術(shù)突破之一。
ELDICO ED-1三維微晶電子衍射儀專門用于微小晶體樣本(<1000nm)的測試,通過對衍射圖譜進行分析,完成結(jié)構(gòu)解析。憑借其創(chuàng)新性的設(shè)計和樣品處理機制,ELDICO ED-1將助力科學(xué)家進一步研究納米晶體學(xué)領(lǐng)域,可以更快、更高質(zhì)量同時更低成本地解析重要結(jié)構(gòu)信息。借助ELDICO ED-1,任何晶體學(xué)相關(guān)實驗室都將能夠?qū){米晶體粉末、微量樣品和相混合物等現(xiàn)階段難以解析的樣品進行結(jié)構(gòu)解析。
應(yīng)用領(lǐng)域:
★ 晶體結(jié)構(gòu)測定
★ 絕對構(gòu)型解析
★ 混合物相晶體圖譜繪制
★ 晶態(tài)雜質(zhì)識別
★ 多態(tài)性表征
★ 無定形材料微晶檢測
設(shè)備特點:
★ 適用于微納米尺寸晶體(<1000nm)解析
ED-1三維微晶電子衍射儀通過電子對微小的晶體進行衍射,收集電子衍射數(shù)據(jù)并進行數(shù)據(jù)解析。該技術(shù)所需晶體尺寸極小,微納米尺寸的晶體即可產(chǎn)生足夠高的信噪比衍射信號。可以快速、高效地提供高分辨率的衍射數(shù)據(jù),大幅降低對樣品形狀、純度和尺寸的要求。
★ 幾分鐘內(nèi)即可完成晶體衍射數(shù)據(jù)采集
ELDICO ED-1巧妙地將五軸、亞微米級精度的測角儀(360°旋轉(zhuǎn))、專業(yè)光學(xué)設(shè)計的160 keV電子束結(jié)合,內(nèi)置德科特思(DECTRIS)QUADRO電子探測器,可在幾分鐘內(nèi),完成晶體衍射數(shù)據(jù)采集。
★ 結(jié)構(gòu)解析分辨率可達0.82 ?
ED-1在快速測量的同時,可以保持敏感的有機樣品的活性,實現(xiàn)單晶結(jié)構(gòu)高精度解析。
★ 八角形樣品腔體設(shè)計,便于增加選件和定制服務(wù)
★ 操作簡單,方便快捷
ED-1系統(tǒng)集成度高,軟硬件一體化,方便操作人員按照既定流程快速、高效的完成放樣、測量以及結(jié)構(gòu)解析工作。
應(yīng)用領(lǐng)域
ELDICO ED-1 三維微晶電子衍射儀通過電子對微小的晶體進行衍射,收集電子衍射數(shù)據(jù)并進行數(shù)據(jù)解析。該技術(shù)所需晶體尺寸極小,微納米尺寸的晶體就可以產(chǎn)生足夠高的信噪比衍射信號??梢钥焖?、高效地提供高分辨率的衍射數(shù)據(jù),大幅降低對樣品形狀、純度和尺寸的要求,可應(yīng)用于MOFs、COFs、沸石、有機分子和無機材料。