X射線熒光測厚儀性能優(yōu)勢

新款Thick8000x射線熒光測厚儀秉承了上一代Thick800A的優(yōu)點，在此基礎(chǔ)上設(shè)計了三維移動平臺，良好的樣品觀測系統(tǒng)和圖像識別功能，滿足了槽狀樣品的測試和不同規(guī)格樣品的測試，同時加上大面積的高分辨率的探測器，大大提高了準確度，為客戶提供更的測試，從而降低產(chǎn)品的成本，提高產(chǎn)品的競爭力。

X射線熒光測厚儀技術(shù)參數(shù)

可以分析從硫到鈾之間的元素，同時可以測試24種元素之多，含量范圍一般從2個PPM到百分之99.9；鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)，不同材質(zhì)略有差異，良好的SDD探測器，高清的工業(yè)攝像頭，儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺尺寸：393（W）x 258 （D）mm

部分產(chǎn)品

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應(yīng)用領(lǐng)域

x射線熒光測厚儀主要應(yīng)該用在電子電器（線路板/PCB）、五金工具、電鍍加工、制冷設(shè)備、半導體、五金配件、端子連接器、腔體等企業(yè)中。

 鍍層產(chǎn)品圖