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產品簡介
詳細介紹
測量標準
1國標GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000 金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法2.美國標準A754/A754M-08Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
應用領域
鍍層厚度分析;RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl檢測;
合金成分分析;
測試步驟
1.每天開機預熱30分鐘后打開測試軟件“FpThick”:用戶使用“Administrator”,密碼:skyray2.進入測試軟件后,選擇“測試條件”點擊“確定”,即測試條件確定(儀器已設置好)3.選擇“工作曲線”如待測樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類推4.放入“Ag片”對儀器進行初始化初始化完成后,(峰通道為1105,計數率達到一定的數,如300以上)。5.待測樣品測試放入待測的樣品,通過攝像頭畫面觀察當前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點??梢酝ㄟ^軟件提供的十字坐標(也稱十字光標)來定位該聚焦點,將樣品放在聚焦點位置。點擊“開始”,輸入樣品名稱后“確定”。6.測試完成后即可保持報告,報告的位置可以在桌面的“分析報告”快捷方式中的“鍍層報告”中找到。注意:測試鍍層樣品時,必須先要確定是什么鍍層、選擇好對應的工作曲線測試。
鍍銅測厚儀技術參數
1 分析元素范圍:S-U
2 可分析多達3層以上鍍層
3 分析厚度檢出限達0.02μm
4 多次測量重復性可達0.05μm
5 定位精度:0.5mm5 測量時間:30s-300s
6 計數率:1000-8000cps
7 儀器適合測試平面。以單層Fe鍍Ni的標樣為例,分析的范圍是0.02—30um,在這個范圍內,才能檢測。0.5-10um的,偏差是5%,就是說真值是1um,用儀器測試的值是0.95-1.05um。
鍍銅測厚儀性能優(yōu)勢
下照式:可滿足各種形狀樣品的測試需求準直器和濾光片手動切換:不同樣品材質用不同的準直器移動平臺:精細的手動移動平臺,方便定位測試點高分辨率探測器:提高分析的準確性鍍銅測厚儀新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達50W的功率實現更高的測試效率