詳細(xì)介紹
高溫耐久性測(cè)試箱應(yīng)用
溫度循環(huán)試驗(yàn)步入式恒溫恒濕環(huán)境試驗(yàn)室
步入式試驗(yàn)室的溫變速率可以達(dá)到所需環(huán)境和應(yīng)力篩選試驗(yàn)的要求。
儲(chǔ)藏和運(yùn)輸試驗(yàn)
步入式試驗(yàn)室可以模擬你的產(chǎn)品在儲(chǔ)藏和運(yùn)輸時(shí)的環(huán)境,從而檢測(cè)產(chǎn)品的性能。
電子器件的檢測(cè)試驗(yàn)
步入式試驗(yàn)室可以通過(guò)模擬惡劣的環(huán)境來(lái)檢測(cè)電子產(chǎn)品的可靠性。例如在低濕的條件下,來(lái)檢測(cè)靜電對(duì)產(chǎn)品的影響,在高溫的條件下檢測(cè)產(chǎn)品是否有短路現(xiàn)象。
汽車(chē)試驗(yàn)
在步入式試驗(yàn)室中可以模擬不同的環(huán)境,對(duì)汽車(chē)整車(chē)和零部件進(jìn)行測(cè)試,從而對(duì)汽車(chē)的性能和使用壽命做出正確的評(píng)估。
高溫耐久性測(cè)試箱設(shè)備滿(mǎn)足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)
GB/T 2423.4-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 總則
GJB 150.3A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分:高溫試驗(yàn)
GJB 150.4A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分:低溫試驗(yàn)
GJB 150.9A-2009 實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分:濕熱試驗(yàn)