關(guān)鍵詞：

四探針方阻測(cè)試儀   四探針測(cè)試儀   四探針電阻測(cè)試儀   高阻測(cè)試儀   測(cè)電阻的儀器

產(chǎn)品用途：液晶顯示高阻四探針測(cè)試儀

覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料,晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，EMI防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等.

儀器特點(diǎn)：液晶顯示高阻四探針測(cè)試儀

四探針法測(cè)試高阻值材料方阻及電阻率，可以測(cè)試到10^10Ω方阻值，液晶顯示，芯片控制，恒流輸出，四探針雙位測(cè)量、參考美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)。中或英文語言版本.

技術(shù)參數(shù)：