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產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	類型	其他
應用領域	環(huán)保,綜合

關鍵詞：

四探針測試儀探針測試機半自動四探針測試儀數(shù)字四探針測試儀四偵針觸屏測試儀

產(chǎn)品用途：半自動四探針觸屏測試儀

四點探針標準測試方法，采用步進系統(tǒng)自動控制探頭與樣品接觸，減少人為因素對測試結果的影響；參照A.S.T.M 標準；測量方塊電阻、電阻率、電導率數(shù)據(jù)、PC軟件采集和數(shù)據(jù)處理實現(xiàn)自動點測模式或手動點測模式，同一位置的重復測試或多點的面電阻測量，報表輸出數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析；提供標準校準電阻件.

儀器特點：半自動四探針觸屏測試儀

晶圓、非晶硅/微晶硅和導電膜電阻率測量；選擇性發(fā)射極擴散片；表面鈍化片；交叉指樣PN結擴散片；新型電極設計，如電鍍銅電阻測量等；半導體材料分析，鐵電材料，納米材料，太陽能電池，LCD，OLED，觸摸屏等.

技術參數(shù)：

規(guī)格型號	BX-Y1228B
1.電阻	10-4～1×107Ω
2.方塊電阻	10-4～1×107Ω/□
3.電阻率	10-5～2×108Ω-cm
4.測試電流	10mA ---200pA
5.電流精度	±2%
6.電阻精度	≤10%
7.PC軟件操作	PC軟件界面：電阻、電阻率、電導率、方阻、溫度、單位換算、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、數(shù)據(jù)管理分析：過程數(shù)據(jù)，大、小值，均值，方差，變異系數(shù)，樣品編號，測試點數(shù)統(tǒng)計報表生成等
8.探針范圍選購：	探針壓力為100-550g；依據(jù)樣品接觸需要手動調(diào)節(jié)
9.探針	針間絕緣電阻：≥1000MΩ；機械游移率：≤0.3% 圓頭銅鍍金材質(zhì)，探針間距1mm；2mm；3mm選配，其他規(guī)格可定制
10.可測晶片尺寸選購	晶圓尺寸：2-12寸（6寸150mm，12寸300mm）；方形片：大至156mm X 156mm 或125mm X 125mm
11.分析模式	自動或手動單點模式
12.加壓方式	測量重復性：重復性≤3%
13.防護功能	具有限位量程和壓力保護;誤操作和急停防護;異常警報
14.測試環(huán)境	實驗室環(huán)境
15.電源	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<100W
16.選購項目	電腦和打印機

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