一、電子測試冷熱沖擊測試箱簡介：
冷熱沖擊測試箱又命名為冷熱沖擊試驗機廠家，是專業(yè)用于電池、耳機、芯片、PCB等組件和原材料在瞬間下經*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度, 藉以在zui短時間內試驗其因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適用的對象包括金屬, 塑料, 橡膠, 電子，科研單位，高等院校，質量檢測院等，可作為其產品改進的依據或參考。
 
二、電子測試冷熱沖擊測試箱應用標準 ：

1.GB/T 10589-1989低溫試驗箱技術條件
2.GB/T 11158-1989 高溫試驗箱技術條件
3.GB/T 10592-1989 高低溫試驗箱技術條件
4.GB/T 2423.1-2001 試驗A：低溫試驗方法
5.GB/T 2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法
6.GB/T 2423.22-2002試驗N:溫度變化試驗方法
7.GJB150.3-1986高溫試驗
8.GJB150.4-1986低溫試驗

三、電子測試冷熱沖擊測試箱控制系統(tǒng)：
韓國*TEMP2000S
高分辨?彩色觸摸屏接口
交互式參數(shù)輸入方式
支持英文，中文
提供內置SMPS的I/O RELAY BOARD-接線簡化和節(jié)省成本
高精確、高信任度
基于PC的方便監(jiān)控
方便設定多達33種的輸出（內置計時器）方式
支持利用USB存儲器-可代替記錄器
內置基于*的PID算法的自動調諧功能
提供強有力的通訊環(huán)境和支持99臺多分支結構
的Fuzzy功能和ARW啟動-抑制超程
標準RS-232C、 RS-485通訊介面

四、技術參數(shù)：

⑴內部尺寸：D40×W35×H36 cm

⑵外部尺寸：D140×W120×H172 cm

⑶試驗槽溫度使用范圍：－40℃～＋150℃(指風冷式在室溫＋26℃,空載時)

⑷高溫槽溫度設定范圍：＋60℃～＋200℃

⑸高溫槽升溫時間:RT（室溫）～＋200℃約需35min（室溫在＋10～＋30℃時）

⑹低溫槽溫度設定范圍：－60℃～0℃

⑺低溫槽降溫時間:RT（室溫）～－60℃約需75min

（室溫在＋10～＋26℃時）

⑻溫度波動度：±1.0℃

溫度均勻度:±2.0℃

⑼沖擊歸復時間：－60～＋155小于5min（空載）

(高低溫沖擊恒溫時間各為30min以上)
  
 鄭重承諾?。?年免費保修，免費送貨安裝，安排工程來到現(xiàn)場調試及技術培訓，終生維護.