美國CID CI-120植物冠層分析儀
CI-110和CI-120植物冠層分析儀快速的、精確的、非破壞性的評(píng)估葉面積指數(shù)（LAI）；
CI-110和CI-120同步測(cè)量多種參數(shù)，提供實(shí)時(shí)的冠層圖像，以及即時(shí)的光合有效輻射（PAR）和 葉面積指數(shù)（LAI）數(shù)據(jù)。只需要簡(jiǎn)單的將探頭放置到冠層下或冠層里面，就可以得到實(shí)時(shí)的、高分辨率的半球圖像。快速容易的捕獲圖像，然后分析全功能的PAR和LAI數(shù)據(jù)。分析結(jié)果保存在掌上電腦或筆記本電腦中。集成的CCD圖像獲取設(shè)備和一個(gè)24PAR陣列傳感器，CI-110和CI-120對(duì)于測(cè)量作物和森林中的植物冠層非常理想。

提供數(shù)據(jù)和計(jì)算

※     葉面積指數(shù)（LAI）

※     葉面平均坡度角度

※     葉面分布/冠層開闊：冠層以下可視天空部分（LD /CO）

※     光合有效輻射（PAR）

※     散射PAR透射

※     光斑

※     光合作用光量子通量密度（PQFD）

如何工作：CI-110和CI-120通過一個(gè)圖像捕獲CCD鏡頭，以及一個(gè)集成的陣列桿式傳感器，USB通訊接口以及軟件，同步測(cè)量PAR和圖像數(shù)據(jù)。通過用戶自定義的方位角和天頂角軟件計(jì)算太陽光柱的透射系數(shù)。林隙比轉(zhuǎn)換程序（諾曼和坎貝爾，1989）用于計(jì)算評(píng)估冠層的葉面積指數(shù)，散射輻射透射系數(shù)，平均葉面坡度角度，以及植物冠層的消光系數(shù)。輸出可以顯示在計(jì)算機(jī)屏幕上，也可以保存為一個(gè)文件。

CI-110/CI-120計(jì)算機(jī)和軟件：全新的和改善的CI-110植物冠層成像儀和一個(gè)緊湊的的掌上電腦一起運(yùn)輸，以及一個(gè)強(qiáng)大的軟件，設(shè)計(jì)和優(yōu)化為觸摸屏。新軟件是快速的、強(qiáng)大的、容易使用的，其特點(diǎn)為：

※     嵌入式控制器和網(wǎng)絡(luò)服務(wù)器

※     植入的802.11b/g，HSPSA，WiMAX，藍(lán)牙2.0 + EDR

※     GPS Sirs Star3

※     優(yōu)化為觸摸屏

※     數(shù)字打格遮蓋（無需塑料器具）

※     GPS標(biāo)示位置信息

※     圖像可以保存為多種格式（.png，.tiff，.jpeg等）

※     在Google Maps/Earth上輸入數(shù)據(jù)

※     輸出至KML

※     創(chuàng)建一個(gè)廣泛的工程數(shù)據(jù)文件

北京東方安諾生化科技有限公司
地址：北京大郊亭中街華騰3座11A
： www.annovatech.com、http://www.hbwxwy.cn/st191187
、
：、
/87952137/87951917/87951529/87951792/87951567

：100124