增駿XU-100新型特新型膜厚儀介紹：

增駿XU-100新型特新型膜厚儀是一款高性價(jià)比型鍍層測(cè)厚儀/膜厚測(cè)試儀/光譜測(cè)厚儀，全新下照式設(shè)計(jì)、性價(jià)比高、適用性強(qiáng)，輕松快速解決各種平面件、異形件及電鍍液的檢測(cè)，且能自動(dòng)判定測(cè)試結(jié)果。廣泛應(yīng)用于電鍍層分析、緊固件行業(yè)、五金行業(yè)、汽車(chē)零部件、配飾厚度分析、電子元器件等多種行業(yè).

XU-100光譜測(cè)厚儀采用下照式C型腔體設(shè)計(jì)，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測(cè)距裝置，對(duì)各種大小異形件都可快速、精準(zhǔn)、無(wú)損測(cè)量。

 檢測(cè)各種金屬鍍層，檢出限可達(dá)0.005um，最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi)，凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0-30mm是一款測(cè)量鍍層厚度性價(jià)比高、適用性強(qiáng)的機(jī)型。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

高品質(zhì)·高標(biāo)準(zhǔn)

下照式設(shè)計(jì)

可以快速方便地定位對(duì)焦樣品。

高精密微型移動(dòng)滑軌

快速精準(zhǔn)定位樣品。

微焦X射線裝置

最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度10%以內(nèi)

可進(jìn)行各類電鍍層膜厚檢測(cè)。

Pro-SD處理器+PC/

DPP+FAST SDD

(選配)

即使測(cè)試微小樣品，

幾秒鐘也能達(dá)到穩(wěn)定性。

變焦裝置算法

可對(duì)各種異形凹槽進(jìn)行檢測(cè)，

凹槽深度測(cè)量范圍可達(dá)0-30mm。

先進(jìn)的EFP算法

多層多元素，包括有同種元素在不同涂鍍層

的檢測(cè)，都可以快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析

1.搭載微聚焦加強(qiáng)型X射線發(fā)生器和先進(jìn)的光路轉(zhuǎn)換聚焦系統(tǒng)

 2.擁有無(wú)損變焦檢測(cè)技術(shù)，手動(dòng)變焦功能，可對(duì)各種異形凹槽件進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，凹槽深度范圍0-30mm

 3.核心EFP算法，可對(duì)多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準(zhǔn)、穩(wěn)的做出數(shù)據(jù)分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，精準(zhǔn)檢測(cè)第一層Ni和第三層Ni的厚度）

 4.配備高精密微型移動(dòng)滑軌，可實(shí)現(xiàn)多點(diǎn)位、多樣品的精準(zhǔn)位移和同時(shí)檢測(cè)

 5.可同時(shí)分析23個(gè)鍍層，24種元素，測(cè)量元素范圍：氯Cl（17）- 鈾U（92），涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92），涂鍍層zui低檢出限：0.005μm

 6.人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作

 7.配有微光聚集技術(shù)，最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度10%