CCD探測(cè)器是一種硅基多通道陣列探測(cè)器，可以探測(cè)紫外、可見(jiàn)和近紅外光。因?yàn)樗歉吒泄舛劝雽?dǎo)體器件，適合分析微弱的拉曼信號(hào)，再加之CCD探測(cè)器允許進(jìn)行多通道操作(可以在一次采集中探測(cè)到整段光譜)，所以很適合用來(lái)檢測(cè)拉曼信號(hào)。CCD的應(yīng)用很廣泛，數(shù)碼相機(jī)中CCD可以用作傳感器，而在科學(xué)光譜儀中使用更高級(jí)別的CCD以獲得更好的靈敏度、均一性和噪音特性。

　　CCD探測(cè)器一般是一維(線狀)或二維(面狀)的陣列，陣列由成千上萬(wàn)個(gè)獨(dú)立的探測(cè)器元素組成(也稱為像元)。每個(gè)元素受到光的作用產(chǎn)生電荷——光越強(qiáng)，作用時(shí)間越長(zhǎng)，產(chǎn)生的電荷越多。終，讀出電子元件把電荷從像元中引出，從而每個(gè)電荷都被讀出測(cè)量。

　　CCD探測(cè)器需要冷卻到較低溫度以采集高質(zhì)量光譜，冷卻方式通常有兩種，一種是半導(dǎo)體制冷，可達(dá)到的至低溫度為-90 oC，另一種是液氮低溫制冷，至低溫度達(dá)到-196 oC。大多數(shù)拉曼光譜系統(tǒng)使用半導(dǎo)體制冷方式，但是對(duì)一些特殊應(yīng)用，液氮冷卻的探測(cè)器仍有其*優(yōu)勢(shì)。

　　CCD探測(cè)器的優(yōu)勢(shì)

　　* 高性價(jià)比的精密CCD檢測(cè)機(jī)，能達(dá)到精密投影機(jī)觀察檢測(cè)功能。

　　* 針對(duì)CF CARD、FPC、BTB等產(chǎn)品多針小pitch的平面度檢測(cè)和調(diào)針，維修不良品。

　　* 彩色CCD可用於產(chǎn)品外觀檢測(cè)，也可改為立式檢查正位度。

　　* 通過(guò)更換治具可以檢測(cè)不同產(chǎn)品，也可在治具上挖不同孔閃塑膠POST檢測(cè)不同產(chǎn)品，通用性*。

　　* 肉眼直接看放大后的螢?zāi)?，不需看顯微鏡，避免眼睛疲勞。

　　* 影像穩(wěn)定，CCD影像暗亮、對(duì)比、快門大小等都可由軟體控制，調(diào)試方便。

　　* X-Y軸兩方向均可設(shè)定數(shù)量不限且各種顏色的檢測(cè)參考線。

　　* 操作簡(jiǎn)單，并且可配合慧機(jī)科技生產(chǎn)的各種LED光源，得到產(chǎn)品理想的影像，光源仿投影機(jī)有順光光源，也可切為背光光源。

　　* 憑藉其在機(jī)器視覺(jué)設(shè)計(jì)的豐富經(jīng)驗(yàn)，可給予客戶合理的打光檢測(cè)方法及機(jī)器視覺(jué)檢測(cè)全方面的技術(shù)支援。

　　* 整套系統(tǒng)輕便小巧，客戶可根據(jù)需要靈活設(shè)計(jì)自己的檢測(cè)機(jī)臺(tái)。

　　* 影像以及參考線都可以存儲(chǔ)，方便與供應(yīng)商、客戶等交流及品質(zhì)管理。