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HORIBA | 貼息貸款儀器 | 納米粒度及Zeta電位分析儀
產(chǎn)品名稱:納米粒度及Zeta電位分析儀
產(chǎn)地:日本
型號:SZ-100V2
典型用戶:天津醫(yī)藥科學研究所
01 儀器用途及應用范圍:
SZ-100V2擁有兩個角度檢測器,可測量不同濃度樣品( 高濃度、稀釋樣品、有色樣品)專利Zeta 電位樣品池設計,電極間距小,石墨涂層,可減小所加電壓、最小化水的電解效應,延長樣品池壽命。
生命科學
蛋白質團聚的粒徑檢測
脂質體、病毒粒徑測量
蛋白質的Zeta 電位、等電點測量
半導體材料
CMP 拋光液粒徑分析
CMP 拋光液在線粒徑分布監(jiān)控
CMP 研磨液Zeta 電位分析
硅片切削液粒徑分布分析
02 產(chǎn)品特點
粒徑測量原理:動態(tài)光散射法(光子相關光譜法)
粒徑測定范圍:0.3 nm ~ 10 μm
Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法
Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV
分子量測量原理:Debye plot
分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da
測量角度:90° 、173°和17°
樣品量:12 μL ~ 1000 μL
03 索取樣本、聯(lián)系報價
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