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HORIBA|半導(dǎo)體領(lǐng)域研究——沾污、膜厚、超晶格結(jié)構(gòu)等信息
半導(dǎo)體在電視、智能設(shè)備、顯示屏等方面有著廣泛的應(yīng)用。那么我們?cè)撊绾巫R(shí)別半導(dǎo)體沾污、獲得應(yīng)力表征、膜厚分析、超晶格結(jié)構(gòu)、晶體管、介電材料等信息呢?
10月30日,4大講師深度剖析
如何利用光譜技術(shù)分析半導(dǎo)體材料?
只要準(zhǔn)備電腦和網(wǎng)絡(luò),即可參與
1 孫正飛
研究方向:光學(xué)光譜、熒光等
負(fù)責(zé)光學(xué)光譜儀的應(yīng)用支持,光學(xué)背景深厚??筛鶕?jù)用戶(hù)實(shí)際需求提供優(yōu)異靈活的的光譜測(cè)試方案,包括光致發(fā)光、拉曼、熒光、透射/反射/吸收等。
2 文豪博士
研究方向:橢圓偏振光譜
畢業(yè)于上海硅酸鹽研究所,擅長(zhǎng)光譜橢偏建模、薄膜分析,長(zhǎng)期為用戶(hù)提供橢偏技術(shù)培訓(xùn)等工作。
3 武艷紅
研究方向:輝光、熒光等
輝光放電光譜儀和熒光光譜儀的,長(zhǎng)期從事樣品測(cè)試及用戶(hù)培訓(xùn)工作,經(jīng)驗(yàn)豐富??筛鶕?jù)客戶(hù)需求提供合適的儀器配置及解決方案。
4 魯逸林博士
研究方向:SPRi、拉曼等
從事拉曼光譜、AFM和表面等離子共振成像的,負(fù)責(zé)樣品分析、數(shù)據(jù)解析、應(yīng)用方案設(shè)計(jì)、用戶(hù)培訓(xùn)等,在材料、生物、鋰電池等領(lǐng)域積累了豐富的經(jīng)驗(yàn)。
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結(jié)合旗下具有近 200 多年發(fā)展歷史的 Jobin Yvon 光學(xué)光譜技術(shù),HORIBA Scientific 致力于為科研及工業(yè)用戶(hù)提供先進(jìn)的檢測(cè)和分析工具及解決方案。如:光學(xué)光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進(jìn)檢測(cè)技術(shù)。今天HORIBA 的高品質(zhì)科學(xué)儀器已經(jīng)成為科研、各行業(yè)研發(fā)及質(zhì)量控制的。