當前位置:HORIBA科學儀器事業(yè)部>>熒光光譜儀>> Fluorolog QMHORIBA Fluorolog-QM熒光光譜儀
Fluorolog-QM 代表了五十多年HORIBA 的熒光行業(yè)先進經(jīng)驗以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀的頂峰。相較于其他科研級熒光光譜儀,Fluorolog-QM 以其全波長范圍內(nèi)卓越的反射性能以及眾多的光源和檢測器選擇方案,全套壽命技術(shù)擴展了壽命測試波長范圍至5500nm,以及顯微鏡、X射線、低溫量子產(chǎn)率、偏振、遠程測試、變溫高溫等多種附件選擇方案等優(yōu)勢,為熒光測試提供無與倫比的高靈敏度和無限拓展性。
“儀器性能、通用性及操作便捷性的飛躍提升”
l 反射式光路設計,保證全波長范圍準確聚焦,無需調(diào)整光路,性能全優(yōu)化,這是高靈敏度的保證
l 具備優(yōu)勢的雜散光抑制比,像差校正長焦長單色儀(單級:350 mm,雙級:700 mm)
l 配備專業(yè)分析軟件,滿足所有穩(wěn)態(tài)和壽命測試需求,具有多種新型壽命擬合功能
l 擴展波長范圍,光路由氣氛保護,保證深紫外到近紅外區(qū)域的檢測
l 可同時連接4種光源和6個檢測器,且全部由電腦控制,實現(xiàn)多功能測試
l 即插即用,100 MHz脈沖光源,強化TCSPC壽命功能
l 近紅外穩(wěn)態(tài)和磷光壽命檢測波長至5500 nm
l 優(yōu)化的光學設計,氙燈光源擴展深紫外激發(fā)(低至180 nm),無臭氧
高靈敏度
Fluorolog-QM具有HORIBA PowerArcTM型氙燈光源配合橢球形反射鏡,實現(xiàn)70%超高聚光效率,并可將光束聚焦在單色儀狹縫處極小的點上,可更快速地激發(fā)樣品,減少光源功率過大帶來的高能耗與高熱量,維護成本也顯著降低。
Fluorolog-QM采用了像差校正的單色儀,該單色儀針對光通量與雜散光進行了優(yōu)化,也保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。
全反射式聚焦光路,使得全光譜范圍(180~5500nm)準確聚焦樣品表面,保證了Fluorolog-QM的高靈敏度。
高分辨率
Fluorolog-QM系列熒光光譜儀使用350 mm焦長非對稱Czerny-Turner設計單色儀,帶有電動三光柵塔輪和電動轉(zhuǎn)折鏡,超過30種光柵可選。
通過電腦控制高精度微步電機和優(yōu)化后的光柵相結(jié)合,實現(xiàn)小至0.01 nm步進,與光學設計、長焦長、全反射光學和抑制光學像差相結(jié)合,可實現(xiàn)優(yōu)于0.1nm的高光譜分辨率。
雜散光抑制顯著
Fluorolog-QM系列熒光光譜儀,配備50 mm焦長非對稱式Czerny-Turner單色儀,采用光路像差校正,分別針對激發(fā)、發(fā)射側(cè)獨立優(yōu)化,確保高雜散光抑制能力,獲得熒光信號。單級單色儀具有1×10-5的高雜散光抑制比,為了實現(xiàn)更高的靈敏度和光譜性能,Fluorolog-QM還可配置兩個350 mm焦長的單色儀,從而實現(xiàn) 700 mm焦距和1×10-10雜散光抑制比,相較于其他熒光光譜儀,HORIBA 雙級中間狹縫光學設計(軟件控制),進一步優(yōu)化分辨率和雜散光抑制比。
滿足不同測試需求的多種硬件配置解決方案
Fluorolog-QM系列采用開放式的結(jié)構(gòu)設計,可實現(xiàn)無限擴展,滿足未來任何可能的熒光應用需求。您可以通過選擇光源、光柵和檢測器以及大量可用的附件來優(yōu)化最初配置??蛇x配置多種多樣!
可同時連接4種光源和6個檢測器,且全部由電腦控制,實現(xiàn)多功能測試。
配合TCSPC,MCS,SSTD和真實門控技術(shù),保證了全光譜穩(wěn)瞬態(tài)(皮秒~秒及長余輝測試)、磷光光譜(延遲光譜)測試功能。
TCSPC壽命測量
Fluorolog-QM 系列輕松擴展TCSPC 壽命測試系統(tǒng)。利用先進的TCSPC 激發(fā)光源,電子計時單元和檢測器,Fluorolog-QM 可提供快速的測試,強大的通用性。
l 所有的穩(wěn)態(tài)/ 時間分辨控制,采集和分析都在FelixFL 軟件中進行。
l 超過40 年的TCSPC 研發(fā)和生產(chǎn)經(jīng)驗
l 100 MHz操作系統(tǒng),實現(xiàn)毫秒內(nèi)完成采集
l 根據(jù)壽命測試時間范圍,軟件自動控制脈沖光源頻率
l TCSPC 壽命測試范圍從5 ps到s
l FelixFL軟件包實現(xiàn)穩(wěn)/瞬態(tài)采集
l 可測量TCSPC壽命、時間分辨各向異性和時間分辨發(fā)射光譜(TRES)
l 超過60個先進的脈沖LED和脈沖激光可供選擇
l 配合HORIBA倍頻器,擴展皮秒超連續(xù)激光器的多用途—研究蛋白時間分辨的強大工具
l 壽命衰減曲線分析包具有多種擬合模型,包括最大熵法(MEM)壽命分布程序
近紅外解決方案(適合熱點研究應用:稀土、量子點、AIE、近紅外二區(qū)探針等)
SSTD磷光檢測模式是所有Fluorolog-QM系統(tǒng)的標配功能,為近紅外樣品的近紅外發(fā)光研究提供解決方案。SSTD測試速度比傳統(tǒng)的MCS技術(shù)快8倍,并且不受檢測器類型限制(MCS技術(shù)只能配合PMT檢測器),從而擴展壽命檢測范圍至5500nm。
Fluorolog-QM可配備多個光源和檢測器,以覆蓋最寬波長范圍的穩(wěn)態(tài)光譜,熒光和磷光壽命測試需求??蓞⒖家韵屡渲?/span>:
l 配置R928 PMT、NIR PMT(H0330或R5509-73市場主流型號)、InGaAs和InSb檢測器的雙發(fā)射單色儀覆蓋范圍從185 nm到5500 nm
l 用于穩(wěn)態(tài)光譜的連續(xù)氙燈
l 20 Hz Q調(diào)制開關(guān)/OPO激光器,用于210 nm到2200 nm的可調(diào)激發(fā)
l 180 nm到5500 nm的穩(wěn)態(tài)光譜
l 單脈沖實時采集技術(shù)(SSTD)用于測量從185 nm到5500 nm范圍內(nèi)的磷光衰減
多種近紅外熒光測試解決方案
NIR PMT檢測器
NIR PMT檢測器具有超高靈敏度,同時適用于穩(wěn)態(tài)和TCSPC壽命測量,目前TCSPC電子設備是獲得皮秒到納秒熒光壽命的選擇選擇。
4款NIR PMT,滿足寬光譜覆蓋范圍
l 300~1400 nm,液氮制冷
l 300~1700 nm,液氮制冷
l 950~1400 nm,電制冷
l 950~1700 nm,電制冷
固態(tài)光電二極管近紅外檢測器
HORIBA可提供多種光電二極管,包含LN制冷,檢測范圍可擴展至5500 nm。
l InGaAs: 800~1700 nm/1900/2100/2600 nm
l InAs: 1000~3450 nm
l InSb: 1500~5500 nm
NIR 壽命測量波長范圍可達5500 nm!
以上列出所有檢測器均可在單脈沖磷光(SSTD)模式中用于NIR發(fā)光壽命測量,壽命測量范圍可從1微秒至秒。SSTD技術(shù)具有超快檢測速度和超高的信噪比:
l 可調(diào)超高頻閃爍氙燈,用于熒光壽命測試
l 第三方脈沖Q調(diào)制激光器
l 相較于NIR PMT,固態(tài)近紅外檢測器提供更高性價比的磷光檢測方案。
強大的FelixFL軟件
Fluorolog-QM 熒光光譜儀集成FelixFL軟件,實現(xiàn)儀器硬件和附件控制。FelixFL作為新型軟件平臺,界面友好,操作簡單,可用于所有穩(wěn)態(tài)及時間相關(guān)光譜的采集和分析。通過USB接口連接,FelixFL即可擁有全套數(shù)據(jù)采集支持,實現(xiàn)控制所有系統(tǒng)配置和運行多種操作模式。
高級運算
FelixFL軟件提供多種定制化功能,包括量子產(chǎn)率、吸收、FRET,色坐標計算,以及單壁碳納米管結(jié)構(gòu)參數(shù)等。這對擴展(例如積分球和吸收附件)數(shù)據(jù)分析非常方便,并且對于一些熒光應用也*,例如分子間相互作用(FRET)和材料表征。
l 單壁碳納米管結(jié)構(gòu)計算
l 色坐標計算
l 吸收計算器
l 絕對量子產(chǎn)率
l FRET熒光共振能量轉(zhuǎn)移
多種附件可選
Fluorolog-QM系列具有*的配件系統(tǒng),研究人員可以根據(jù)實驗需求,不斷擴展儀器功能
l 絕對量子產(chǎn)率測量積分球附件
l 偏振附件
l 吸收/透射附件
l 微量比色皿:250 μl 微量樣品池;500μl 比色皿5×5 mm
l 2位和4位磁力攪拌控溫樣品支架
l 4位磁力攪拌樣品支架
l 液氮或液氦低溫恒溫器
l 固體樣品架,測試角度360°可調(diào),滿足樣品前表面熒光測量,適用于薄膜,粉末,顆粒,紙張,纖維和顯微載玻片等樣品測量
l 自動滴定儀雙注射,雙閥
l Hi-tech SFA-20超快停留動力學附件
l 密封防刮標準水樣品,用于水拉曼S/N驗證
l 發(fā)射校正因子附件
l 激發(fā)校正因子附件
l 上轉(zhuǎn)換激光附件
l 20 μl HPLC 流動樣品池
l X射線源
l 顯微鏡
l 高溫附件
l 變溫量子產(chǎn)率