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OD7000系列西克SICK高精度位移傳感器采用光譜共焦技術(shù)，以非常高的精度測量非常小的距離。

白光通過光纖和光纖耦合器傳輸?shù)教筋^，探頭中的透鏡將白光分成不同的波長并聚焦。每個(gè)波長都有自己的焦點(diǎn)的目標(biāo)表面被大程度地垂直反射的回傳感器頭和光纖接收，并被轉(zhuǎn)移到控制器中的光譜儀進(jìn)行分析聚焦目標(biāo)表面的波長比其他波長反射更強(qiáng)烈。

光譜顯示出明顯的峰值這個(gè)光譜峰對應(yīng)一個(gè)距離，可以用來有效確定到目標(biāo)表面的距離。

由控制器和探頭組成，結(jié)構(gòu)緊湊，易于集成?？刂破骺蛇x配編碼器輸入，都具有以太網(wǎng)接口，節(jié)省成本。

OD7000系列西克SICK高精度位移傳感器主要面對的是終端用戶、集成商和E&S行業(yè)的OEM商，在面對在傳統(tǒng)激光位移傳感器無法有效測量時(shí)，系列西克SICK高精度位移傳感器也可以提供解決方案。

OD7000系列西克SICK高精度位移傳感器產(chǎn)品特點(diǎn)：配備RS-422和以太網(wǎng)接口

三種測量范圍:600μm、4mm、10mm分辨率為25nm、180nm和400nm

線性度為198nm、1.4μm和4μm

緊湊的控制器尺寸

簡單易于使用的配置軟件

技術(shù)參數(shù)：

應(yīng)用范圍：玻璃測厚（單頭）

玻璃平面度測量(多傳感器頭)

涂料、膠水、漿料或密封劑的厚度

測量太陽能硅片鋸痕

檢測透明薄膜厚度測量(單傳感器頭)

不透明薄膜厚度測量(兩個(gè)傳感器頭)

應(yīng)用場景：玻璃行業(yè)—單頭測厚

電子和光伏行業(yè)—太陽能硅片測量平整度以及分選

機(jī)械制造和消費(fèi)品行業(yè)—薄膜厚度檢測