產(chǎn)品描述：
Santec PEM-340消光比測試儀可以實(shí)現(xiàn)1260~1630nm的全波段測量，該消光比測試儀具有很高的消光比測試精度、偏振角測試精度，能夠測量高達(dá)50dB的消光比，并且配備了GPIB接口，適用于偏振光軸調(diào)整的光學(xué)元器件裝配及保偏光纖熔接的質(zhì)量控制及檢測等領(lǐng)域。PEM-340可以實(shí)現(xiàn)快速，準(zhǔn)確的光器件偏振軸對準(zhǔn)及保偏光纖（PMF）性能評價(jià)。除此之外，使用應(yīng)答時(shí)間為1kHz的模擬功率計(jì)， 可對應(yīng)半導(dǎo)體激光及光纖的高速自動(dòng)對準(zhǔn)。
技術(shù)參數(shù)：
全波段1260 to 1630 nm
消光比, 光功率及偏振角度的同時(shí)顯示
PER測量的50dB動(dòng)態(tài)范圍
寬動(dòng)態(tài)輸入功率范圍
(- 40 to + 10 dBm/標(biāo)準(zhǔn)功率), (- 25 to + 20 dBm/高功率)
直接 PD模擬輸出
實(shí)時(shí)(up to 10 Hz) 測量
可互換連接器: FC, SC or LC
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