單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀是由低功率X射線管發(fā)射出的多波長(zhǎng)X熒光，經(jīng)個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)元件捕獲聚焦，并將具有合適波長(zhǎng)可以激發(fā)硅元素K層電子的單色X射線照射在裝入樣品盒中的被測(cè)樣品上形成小光斑。單色初級(jí)束流激發(fā)樣品并發(fā)射次級(jí)特性熒光X射線，通過(guò)第二個(gè)雙曲面彎晶光學(xué)元件僅收集由硅元素激發(fā)出的波長(zhǎng)為0.713nm的KαX射線熒光，并被一合適的探測(cè)器測(cè)量，然后用校準(zhǔn)方程將其轉(zhuǎn)換成被測(cè)樣品中的硅含量。
硅對(duì)汽油有吸附作用，會(huì)造成混合氣體，影響發(fā)動(dòng)機(jī)的工作。更嚴(yán)重的是膠質(zhì)粘住氣門，活塞上行時(shí)與未回位的氣門相撞，造成發(fā)動(dòng)機(jī)毀壞等！雜質(zhì)以膠質(zhì)的形態(tài)存在，長(zhǎng)期使用劣質(zhì)燃油，膠質(zhì)和無(wú)法*燃燒的物質(zhì)會(huì)在氣門、進(jìn)氣道、燃燒室內(nèi)堆積 ，慢慢形成堅(jiān)硬的積炭 ，它對(duì)汽油有吸附作用，會(huì)造成混合氣體，影響發(fā)動(dòng)機(jī)的工作。更嚴(yán)重的是膠質(zhì)粘住氣門，活塞上行時(shí)與未回位的氣門相撞，造成發(fā)動(dòng)機(jī)毀壞，所以我們應(yīng)及時(shí)對(duì)該元素進(jìn)行檢測(cè)。
單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀的優(yōu)勢(shì)特點(diǎn)都有哪些呢？趕緊一起來(lái)看看吧。
1、簡(jiǎn)易樣品制備及儀器操作過(guò)程，檢測(cè)速度快，分析時(shí)間300秒；
2、無(wú)需樣品損耗或轉(zhuǎn)化，無(wú)需消耗氣體及高溫操作；
3、直接檢測(cè)，無(wú)需樣品前處理；超低維護(hù)量，較少的校準(zhǔn)頻率；
4、體積小巧，可放置于任何實(shí)驗(yàn)室，即插即用；無(wú)接觸，無(wú)裁剪的樣品杯膜；
5、單波長(zhǎng)X熒光硅分析儀標(biāo)配工作站，可擁有更多的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)空間、同時(shí)實(shí)現(xiàn)LIMS功能；
6、分析器內(nèi)無(wú)運(yùn)動(dòng)部件；標(biāo)配12位自動(dòng)進(jìn)樣器，真正提高效率。
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