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四探針電阻率/方阻測試儀

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  • 四探針電阻率/方阻測試儀
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  • 型號 DSKDY-1
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
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更新時間:2018-03-14 21:36:05瀏覽次數(shù):1450

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產(chǎn)品簡介

DSKDY-1型四探針電阻率/方阻測試儀(以下簡稱電阻率測試儀)是用來測量半導體材料(主要是硅單晶、鍺單晶、硅片)電阻率,以及擴散層、外延層、ITO導電薄膜、導電橡膠方塊電阻的測量儀器。它主要由電氣測量部份(簡稱:主機)、測試架及四探針頭組成。

詳細介紹

 

主要技術指標
1)儀器采用GB/T 1552-1995硅、鍺單晶電阻率測定直排四探針法
2)范圍:電阻率10-410+4歐姆·厘米,分辨率為10-4歐姆·厘米
方塊電阻10-310+5歐姆/□,zui小分辨率為10-3歐姆/
3)可測量材料:半導體材料硅鍺棒、塊、片、導電薄膜等
可準確測量的半導體尺寸:直徑≥20
可測量的半導體尺寸:直徑≥8
4)測量方式:平面測量。
5)電壓表:雙數(shù)字電壓表,可同時觀察電流、電壓變化
A.量程0~199.99 mV
B.基本誤差±(0.004%讀數(shù)+0.01%滿度
C.輸入阻抗﹥1000MΩ
D. 4 1/2位數(shù)字顯示,019999
6)恒流源:
A.電流輸出:直流電流0.003100 mA連續(xù)可調(diào),有交流電源供給
B.量程:10uA100uA,1 mA10 mA,100 mA五檔
 C.恒流源精度:各檔均≤±0.05%
7)四探針測試探頭
A.探頭間距1.59    
B.探針機械游率:±0.3%
C.探針直徑0.8    
D.探針材料:碳化鎢,探針間及探針與其他部分之間的絕緣電阻大于109歐姆。
8)手動測試架:KDJ-1A 型手動測試架探頭上下由手動操作,可以用作斷面單晶棒和硅片測試,探針頭可上下移動距離:120mm,測試臺面200x200(mm)。
9)測量系統(tǒng)
KDY測量系統(tǒng)設計語言:VC++,可對四探針、兩探針電阻率測量數(shù)據(jù)進行處理并修正測量數(shù)據(jù),特定數(shù)據(jù)存儲格式,顯示變化曲線。
兼容性:適用于通用電腦,支持Windows XP。
10)精度
電器精度:1-1000歐姆≤0.3 %
整機測量精度:1-500歐姆·厘米≤3%
11)電流:220V±10%,50HZ,功率消耗﹤35W
四探針頭簡介
一、特點
測量電阻率的小游移探針頭。使用幾何尺寸十分精確的紅寶石軸套,確保探針間距的恒定、準確??刂茖毷瘍?nèi)孔與探針之間的縫隙不大于6μm,保證探針的小游移率。采用特制的S型懸臂式彈簧,使每根探針都具有獨立、準確的壓力。量具精度的硬質(zhì)合金探針,在寶石導孔內(nèi)穩(wěn)定運動,持久耐磨。
二、用途
測量硅、鍺單晶(棒料、晶片)、定向結晶多晶硅的電阻率,測定硅外延層、擴散層和離子注入層以及導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻測量。
探針間距1.00mm的探針頭適合測量直徑小于50mm的的直徑單晶片。
探針間距1.59mm的探針頭相對精度高,在SEMI標準中為仲裁探針頭,適合測量直徑大于50mm的的大直徑單晶片,因為探針直徑較粗更加耐磨且不易斷針,所以尤其適合測量硅、鍺單晶棒、塊。
三、規(guī)格型號:
KDT-1:探針合力8±1N,探針間距1.00mm,探針直徑0.5 mm,針尖壓痕直徑2550μm,用于測量硅棒、硅塊
KDT-2:探針合力8±1N,探針間距1.59mm,探針直徑0.8 mm,針尖壓痕直徑2550μm,用于測量硅棒、硅塊
KDT-3:探針合力6±1N,探針間距1.00mm,探針直徑0.5 mm,針尖壓痕直徑50100μm,用于測量硅片
KDT-4:探針合力6±1N,探針間距1.59mm,探針直徑0.8 mm,針尖壓痕直徑50100μm,用于測量硅片
KDT-5:探針合力4±1N,探針間距1.00mm,探針直徑0.5 mm,針尖壓痕直徑100250μm,用于測量硅外延層、擴散層和離子注入層、導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻
KDT-6:探針合力4±1N,探針間距1.59mm,探針直徑0.8 mm,針尖壓痕直徑100250μm,用于測量硅外延層、擴散層和離子注入層、導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜的方塊電阻
在探針頭型號后綴帶B、A、AA、AAA為探針頭等級,如KDT-2B,這類探針為焊接式,探針頭測量精度高、穩(wěn)定性好,維修一般需寄回廠家,使用次數(shù)大于5萬次人為因數(shù)斷針、連接線除外
在探針頭型號后綴帶P 的為探針可拔插式,如KDT-2P,這種探針更換方便,彈簧使用壽命長可達百萬次,測量穩(wěn)定性稍差,這類探針頭都屬于B級探針頭。
四、技術指標
探針頭主要分為4個等級,其中AA、AAA級提供中國計量院檢測報告,A級提供本公司的檢測報告。
游移率      B……………0.5%
            A……………0.3%
            AA………… 0.2%
            AAA…………0.1%
間距偏差    B…………… 3%
            A…………… 2%
            AA………… 2%
            AAA………… 1%
探針針與導孔間隙小于0.006mm,探針機械游移率低,從而保證測量重復性
探針材料:硬質(zhì)合金(主成份:碳化鎢)
500V絕緣電阻:>1000MΩ
七、外形尺寸及安裝:探頭基本外徑為25.4mm1英寸),可安裝在內(nèi)徑為26mm的套筒上。
 
 

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