Q-LAB日曬老化箱

Q-SUN Xe-3-HC日曬老化箱是一款全功能的光穩(wěn)定性、色牢度及耐光性試驗(yàn)箱。它采用了三根獨(dú)立的氙燈燈管，可測(cè)試三維樣品。

Q-SUN Xe-3-HC日曬老化箱除了具備濕度控制功能之外，還配備制冷機(jī)、可同時(shí)控制的黑板和箱內(nèi)空氣溫度，使樣品的溫度得到控制。對(duì)于特殊行業(yè)的產(chǎn)品，如藥品和化妝品的測(cè)試，為了避免熱量導(dǎo)致的測(cè)試結(jié)果出現(xiàn)偏差，溫度可設(shè)定在42oC 和120oC之間的任意一點(diǎn)，取決于傳感器的類型、輻照強(qiáng)度、濾光片類型、燈管的使用時(shí)間和周圍環(huán)境的溫度。

Q-SUN Xe-3-HC日曬老化箱

輻照度控制功能

Q-SUN Xe-3氙燈老化試驗(yàn)機(jī)的氙弧燈管逼真地再現(xiàn)了全光譜太陽光，包括紫外線、可見光和紅外線。對(duì)于許多材料來說，必須進(jìn)行全光譜曝曬，以提供精確的模擬，尤其是做顏色變化和日曬色牢度測(cè)試時(shí)。

SOLAR EYE 太陽眼輻照度控制系統(tǒng)可不間斷地檢測(cè)和控制燈光的輸出量，保證了光能量輸出的穩(wěn)定性。輻照度可控制在340nm、420nm或TUV。

Q-SUN氙燈老化試驗(yàn)機(jī)輻照度控制功能

Q-LAB日曬老化箱控制及可選軟件

Q-SUN Xe-3氙燈老化試驗(yàn)機(jī)控制器功能強(qiáng)大且易于使用，支持五種可選語言編程(英語、法語、西班牙語、意大利語、德語)，并且包括完整的自檢查錯(cuò)功能。有需要的話，它也能顯示簡(jiǎn)單的警告信息、常規(guī)服務(wù)提醒或執(zhí)行安全關(guān)機(jī)。

質(zhì)量體系需要測(cè)試條件的證明文檔，因此每個(gè)Q-SUN氙燈老化試驗(yàn)機(jī)都配有以太網(wǎng)連接?？蛇x的“虛擬帶狀"PC軟件允許用戶自動(dòng)記錄曝露條件和從Q-SUN試驗(yàn)機(jī)直 接傳輸數(shù)據(jù)到基于Windows系數(shù)的計(jì)算機(jī)。 數(shù)據(jù)也可以通過電子郵件直接發(fā)送到Q-Lab技術(shù)支持臺(tái)，以尋求專家對(duì)故障進(jìn)行診斷和排除。

Q-SUN Xe-3-HC氙燈老化試驗(yàn)機(jī)樣品容量

Q-SUN Xe-3-HC容納55個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品架，每個(gè)樣品的面積為51X102mm².

Q-SUN Xe-1/Xe-2/Xe-3氙燈老化試驗(yàn)機(jī)比較

Q-SUN Xe-1/Xe-2/Xe-3氙燈老化試驗(yàn)機(jī)比較

Q-SUN 氙燈老化試驗(yàn)機(jī)適用標(biāo)準(zhǔn)

AATCC TM 16、AATCC TM 169、ISO 105 B02、ISO 105 B04、ISO 105 B06、 ISO 11341、ISO 4892-1&2、SAE J2412、SAE J2527、IEC 68-2-5、JIS L0843、Marks & Spencer C9&C9A、JASO M346、ASTM G151、ASTM G155、PV 1303、PV 3929、PV 3930、ASTM D4355、JASO M346、GMW 3930、GMW 14867、VDA 675242、GB/T 8427、GB/T 8430、GB/T 14576等。

氙燈老化箱與紫外老化試驗(yàn)箱的選擇

這兩種檢測(cè)設(shè)備的測(cè)試原理*不同。氙燈試驗(yàn)箱模擬太陽光的所有光譜，包括紫外線（UV），可見光和紅外線（IR）。氙燈光譜在295 nm到800 nm范圍內(nèi)基本上與太陽光光譜相吻合.

另一方面，QUV紫外老化試驗(yàn)箱不能模擬全光譜太陽光。它基于的原理是，對(duì)暴露在室外的經(jīng)久耐用的材料，紫外線的短波段300~400 nm 是引起老化損害的主要的原因。然而，對(duì)于長(zhǎng)一點(diǎn)的波長(zhǎng)它將無能為力。

Q-Sun氙燈老化箱模擬太陽光的所有光譜，它被用來測(cè)試許多產(chǎn)品，這些產(chǎn)品對(duì)紫外線的長(zhǎng)波段，可見光及紅外線較敏感。

當(dāng)然，不管一種測(cè)試裝置如何有效，如果它的購(gòu)買價(jià)格和運(yùn)行成本太高的話，那它也沒有實(shí)際應(yīng)用價(jià)值。這就是為什么購(gòu)買價(jià)格，運(yùn)行成本，維護(hù)費(fèi)用是一些不容忽視的重要因素的原因。在考慮一種檢測(cè)設(shè)備的優(yōu)點(diǎn)時(shí)也應(yīng)考慮到這些因素的影響。