本文詳細介紹了使用TA 儀器氙燈導熱儀DXF200 測量高導熱微米級薄膜樣品的面內(nèi)熱擴散
系數(shù)的相關理論和實驗設計，對25 微米的石墨薄膜進行了多次重復實驗。通過對標準樣品銅的
熱擴散系數(shù)驗證，證明了系統(tǒng)的可靠性。對石墨薄膜進行8 次脈沖測試，實驗數(shù)據(jù)與理論模型擬
合度高，重復性優(yōu)異。
提供商 |
TA儀器 | 下載次數(shù) |
406次 |
資料大小 |
402.6KB | 資料類型 |
PDF 文件 |
資料圖片 |
-- | 瀏覽次數(shù) |
831次 |
22
立即詢價
您提交后，專屬客服將第一時間為您服務