塑料薄膜測厚儀-概述

塑料薄膜，作為現(xiàn)代工業(yè)與日常生活中廣泛應(yīng)用的材料，廣泛應(yīng)用于包裝、農(nóng)業(yè)、建筑、電子、醫(yī)療等多個(gè)領(lǐng)域。其優(yōu)良的防潮、防氧化、可塑性和輕便性，使得塑料薄膜成為連接產(chǎn)品與市場的重要橋梁。然而，薄膜的厚度控制直接關(guān)系到產(chǎn)品的性能、成本及安全性，因此，測量塑料薄膜的厚度顯得尤為重要。塑料薄膜測厚儀，正是為了滿足這一需求而誕生的高科技產(chǎn)品。

塑料薄膜的用途簡述

塑料薄膜以其優(yōu)良的物理和化學(xué)性能，在多個(gè)行業(yè)發(fā)揮著關(guān)鍵作用。在包裝行業(yè)，它作為食品、藥品、化妝品等產(chǎn)品的主要包裝材料，有效保護(hù)產(chǎn)品免受外界污染；在農(nóng)業(yè)領(lǐng)域，農(nóng)用地膜提高了土壤溫度，促進(jìn)了作物生長；而在電子工業(yè)中，塑料薄膜更是作為電池隔膜、電容薄膜等關(guān)鍵組件，對產(chǎn)品的性能起著決定性作用。

塑料薄膜測厚儀的必要性

鑒于塑料薄膜在不同應(yīng)用場景下的重要性，其厚度的均勻性和準(zhǔn)確性直接影響到產(chǎn)品的質(zhì)量和生產(chǎn)效率。過厚或過薄的薄膜都可能導(dǎo)致性能下降、成本增加甚至安全隱患。因此，使用塑料薄膜測厚儀進(jìn)行準(zhǔn)確測量，對于控制生產(chǎn)質(zhì)量、優(yōu)化材料使用、提升產(chǎn)品競爭力具有重要意義。

儀器工作原理

塑料薄膜測厚儀采用先進(jìn)的接觸式測試原理，通過精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)和傳感器技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對薄膜厚度的非破壞性測量。具體操作時(shí)，預(yù)先處理好的薄型試樣被置于下測量面上，上測量面在控制系統(tǒng)的指揮下，以一定的壓力和速度平行且中心對齊地降落到試樣的另一面上。此時(shí)，與測量頭一體化的高精度傳感器會自動檢測出上下測量面之間的距離，該距離即為試樣的厚度，并實(shí)時(shí)顯示在儀器屏幕上。

技術(shù)優(yōu)勢

★彩色大液晶顯示測試結(jié)果，及每次測量值、統(tǒng)計(jì)值；
★觸摸屏控制，無需借助計(jì)算機(jī)，主機(jī)即可獨(dú)立操作，可存儲、查詢測試結(jié)果，省去每次測試必須鏈接電腦的繁瑣；
★配備微型打印機(jī)，快速打印每次測量結(jié)果及統(tǒng)計(jì)大小值、平均值；
★儀器自動保存不少于500組測試結(jié)果，隨時(shí)查看并打印 ；
★測試軟件提供測試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析，準(zhǔn)確直觀地將測試結(jié)果展示給用戶 ；
★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸；
★系統(tǒng)程序具備ISP在線升級功能，可提供個(gè)性化服務(wù)。

技術(shù)參數(shù)

測量范圍 0-2mm （其他量程可定制）

分辨率 0.1um

測量速度 10次/min（可調(diào)）

測量壓力 17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）

接觸面積 50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種

進(jìn)樣步矩 0 ～ 1300 mm(可調(diào))

進(jìn)樣速度 0 ～ 120 mm/s(可調(diào))

機(jī)器尺寸 450mm×340mm×390mm (長寬高)

重 量 23Kg

工作溫度 15℃-50℃

相對濕度 80%,無凝露

試驗(yàn)環(huán)境 無震動，無電磁干擾

工作電源 220V 50Hz

應(yīng)用范圍

該測厚儀具有測量范圍廣（適用于2mm范圍內(nèi)的各種材料）、分辨率高（可達(dá)0.1μm）、操作簡便、測量速度快等特點(diǎn)，能夠準(zhǔn)確測量包括塑料薄膜、復(fù)合膜、紙張、金屬箔片、硬片等在內(nèi)的多種硬質(zhì)和軟質(zhì)材料的厚度。其廣泛應(yīng)用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機(jī)構(gòu)、科研機(jī)構(gòu)以及高校實(shí)驗(yàn)室等單位，為材料研發(fā)、質(zhì)量控制和科學(xué)研究提供了強(qiáng)有力的技術(shù)支持。

塑料薄膜測厚檢測儀的出現(xiàn)，不僅提高了塑料薄膜厚度測量的精度和效率，更為相關(guān)行業(yè)的質(zhì)量控制和產(chǎn)品研發(fā)提供了有力保障。

塑料薄膜測厚儀-概述

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