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QNIX4200P涂層測(cè)厚儀
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀是一款外接探頭的涂層測(cè)厚儀，跟老款QNIX4200功能一樣，只是探頭是分體式設(shè)計(jì)。
QNIX4200P涂層測(cè)厚儀特點(diǎn)：
只需調(diào)零、無(wú)需校準(zhǔn)
Fe探頭
分體化設(shè)計(jì)
自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)
技術(shù)參數(shù)：
技術(shù)參數(shù)：
| 型 號(hào) | 4200 | 4200P |
| 基 體 | Fe | Fe |
| 探頭形式 | 一體 | 分體 |
| 顯 示 | LCD數(shù)字顯示 | |
| 測(cè)量范圍 | Fe:0-3000μm Fe：0－5000μm | Fe:0-3000μm Fe：0－5000μm |
| 測(cè)量精度 | 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3% | |
| 顯示精度 | 0－99μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm | |
| 工作溫度 | －10 － ＋60℃ | |
| 溫度補(bǔ)償 | 0－50℃ | |
| 小基體 | 10mm×10mm | |
| 小曲率 | 凸、凹半徑：3mm/25mm | |
| 薄基體 | Fe：0.2mm，NFe：0.05mm | |
| 電 源 | 5號(hào)電池2節(jié) | |
| 重 量 | 110g | |
| 尺 寸 | 110×60×27mm | |