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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
M1標(biāo)準(zhǔn)磁粉探傷試片
M1標(biāo)準(zhǔn)磁粉探傷試片符合JB4730.4-2005標(biāo)準(zhǔn),用于驗(yàn)證磁粉探傷的綜合性能。一套包含2片。是磁粉探傷的常用備件。
該標(biāo)準(zhǔn)磁粉探傷試片用于檢驗(yàn)磁粉探傷設(shè)備、磁粉、磁懸液的綜合性能(系統(tǒng)靈敏度),及磁化方向、有效磁化范圍和大致的有效磁場(chǎng)強(qiáng)度以及考察所采用的探傷工藝規(guī)程。
A1型磁粉標(biāo)準(zhǔn)試片按HB/T6065-04標(biāo)準(zhǔn)制作,是磁粉探傷*的工具。
規(guī)格:-15/100
-30/100
-60/100
-7/50
-15/50
-30/50
后三種適用于有曲率的探傷面。
其他試片有C2型,D1型。
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