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CM-8820覆層測(cè)厚儀，CM-8820涂層測(cè)厚儀能測(cè)量鐵基（磁性基材）上的非磁性涂層的厚度。采用分體式探頭，測(cè)量范圍0～2000um。
詳細(xì)介紹
CM-8820涂層測(cè)厚儀能測(cè)量鐵基（磁性基材）上的非磁性涂層的厚度。采用分體式探頭，測(cè)量范圍0～2000um。
CM-8820鐵基涂層測(cè)厚儀
CM-8820測(cè)量范圍：0～2000um。
功能: 測(cè)量鐵磁性金屬基體上的非導(dǎo)磁涂層的厚度
分辨率: 0.1 um （小于100um）
1 um （大于100um）
小測(cè)量面積：6mm
薄基底：0.3mm
公制/英制：可選擇
電池電壓指示：低電壓提示
自動(dòng)關(guān)機(jī)
使用環(huán)境：溫度：0-40℃ 濕度：10-90%RH
準(zhǔn)確度: ±（5%n+1） 或 ±2.5um
電源: 4節(jié)5號(hào)電池
外形尺寸: 161x69x32 mm
重量：210g（不含電池）
測(cè)量范圍可選：0-200um to15000um
CM-8820覆層測(cè)厚儀，CM-8820涂層測(cè)厚儀應(yīng)用:測(cè)量鋼、鐵等磁性金屬基體上的非鐵磁性涂層、鍍層，例如：漆、粉末、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘、瓷、琺瑯、氧化層等。