隨著行業(yè)法規(guī)的逐步深入，工藝技術(shù)的逐漸升級(jí)，清潔度的要求也越來(lái)越高。控制產(chǎn)品清潔度的重要性和復(fù)雜性也越來(lái)越被大家所關(guān)注。

2020 年，第三屆汽車(chē)零部件清潔度控制技術(shù)峰會(huì)將帶領(lǐng)大家：

· 聚焦 汽車(chē)清潔度的法規(guī)和政策
· 關(guān)注 清潔度控制新工藝和新設(shè)備
· 跟蹤 關(guān)鍵零部件清潔度的要求提升和優(yōu)化
· 分享 汽車(chē)行業(yè)清潔度控制成果和經(jīng)驗(yàn)
· 交流 汽車(chē)領(lǐng)域的清潔度新挑戰(zhàn)
· 開(kāi)發(fā) 清潔度新市場(chǎng)

會(huì)議時(shí)間：2020 年 9 月 24 日 - 25 日
會(huì)議地點(diǎn)：上海金地嵐韻酒店

飛納會(huì)議報(bào)告

報(bào)告主題：
基于電鏡的汽車(chē)清潔度和鋰電清潔度自動(dòng)化檢測(cè)方案 —— Particle X

報(bào)告時(shí)間：
2020 年 9 月 25 日上午 10:00-10:30

Phenom ParticleX 全自動(dòng)清潔度分析系統(tǒng)集成了掃描電鏡和能譜儀，相比傳統(tǒng)的重量法和光鏡法能更有效率地監(jiān)控過(guò)程清潔度。傳統(tǒng)的方法只能提供清潔部件上大顆?；覊m和碎片的總體重量或形狀信息，而不能全面分辨顆粒的污染源。Phenom ParticleX 取代傳統(tǒng)顆粒物清潔度檢測(cè)方法，允許工程師看見(jiàn)微米尺寸的顆粒并確定其化學(xué)成分，從而判斷出污染源。

使用自動(dòng)化 SEM-EDX 解決方案實(shí)現(xiàn)粒度、形狀和化學(xué)成分的快速、便捷分析：

· 顆粒粒度分布 – 全面的顆粒粒度范圍
· 顆粒形貌分析 – 多種測(cè)量方法可供選擇
· 雜質(zhì)顆粒檢測(cè) – 可檢測(cè)出數(shù)千顆粒中夾雜的微量雜質(zhì)顆粒
· 高分辨率成像 – 10 nm 分辨率

參加第三屆汽車(chē)零部件清潔度控制技術(shù)峰會(huì)，與飛納電鏡一起探究清潔度檢測(cè)新解決方案！