2016 年 7 月 24 日 - 2016 年 7 月 28 日，在美國俄亥俄州哥倫布會(huì)議中心舉行了一年一度的美國電鏡年會(huì) M&M( MICROSCOPY & MICROANALYSIS)。飛納臺(tái)式掃描電鏡攜多款產(chǎn)品亮相美國 M&M 2016，并現(xiàn)場進(jìn)行了樣品測試。

  在這里，您不僅可以現(xiàn)場感受到飛納臺(tái)式掃描電鏡令人驚嘆的設(shè)計(jì)，小小的桌面式儀器竟然可以取代傳統(tǒng)落地式掃描電鏡的功能。您也可以進(jìn)一步了解飛納臺(tái)式掃描電鏡采用的*的 CeB6 燈絲，亮度是鎢燈絲的 10 倍，為您呈現(xiàn)表面細(xì)節(jié)豐富的掃描電鏡圖像。CeB6 燈絲可以穩(wěn)定使用，壽命至少為 1500 小時(shí)，甚至可以達(dá)到 2000 個(gè)小時(shí)，燈絲使用時(shí)間記錄在飛納臺(tái)式掃描電鏡中，可以隨時(shí)查看。

  飛納臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) Phenom ProX 由 Karel van der Mast 教授帶領(lǐng)原飛利浦電鏡部門精英研發(fā)，將能譜探頭*集成在電鏡主機(jī)內(nèi)，開創(chuàng)了電鏡能譜設(shè)計(jì)新理念。 

  飛納臺(tái)式掃描電鏡大樣品室版 Phenom XL 不僅可以拓展能譜功能，還可以增加了二次電子探測器，拉伸臺(tái)，壓力臺(tái)，大角度傾斜臺(tái)，高低溫樣品臺(tái)等。

  飛納臺(tái)式掃描電鏡系列還有豐富的拓展功能，高倍超大視野圖像拼合，孔徑統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，纖維統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，顆粒統(tǒng)計(jì)分析測量系統(tǒng)，3D 粗糙度重建等。

  飛納臺(tái)式掃描電鏡，帶給您不一樣的掃描電鏡體驗(yàn)，，快速，強(qiáng)大。如果您想進(jìn)一步了解飛納，請(qǐng)?jiān)L問飛納中國。