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電子產(chǎn)品環(huán)境應力篩選方法GJB1032-90
最近更新時間：2015-3-21
提 供 商：廣東科文試驗設(shè)備有限公司資料大?。?/span>543KB
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- 主題內(nèi)容與適用范圍
本標準規(guī)定了jun用電子產(chǎn)品環(huán)境應力篩選的要求、條件和方法。
本標準適用于下列各類電子產(chǎn)品，在研制和批生產(chǎn)階段的環(huán)境應力篩:
- 地面固定設(shè)備；
- 地面移動設(shè)備；
- jian船用設(shè)備；
- fei機用設(shè)備及外掛；
篩選產(chǎn)品可以是印刷電路板組裝件、電子組件或整機；對大型電子產(chǎn)品應優(yōu)先考慮在較低裝配級別如印刷電路板組裝件上進行篩選。
- 引用標準
GB 2036 印制電路名詞術(shù)語及定義
GB 5170 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法
GB 8052 單水平和多水平連續(xù)計數(shù)抽樣檢查程序及表
GJB 150 jun用設(shè)備環(huán)境試驗方法
GJB 431 產(chǎn)品層次、產(chǎn)品互換性、樣機及有關(guān)術(shù)語
GJB 450 裝備研制與生產(chǎn)的可靠性通用大綱
GJB 451 可靠性、維修性術(shù)語
GJB 457 機載電子設(shè)備通用規(guī)范
- 術(shù)語
3.1環(huán)境應力篩選
在電子產(chǎn)品施加隨機振動及溫度循環(huán)應力，以鑒別和剔除產(chǎn)品工藝和元件引起的早期故障的一種工序或方法。
3.2環(huán)境應力篩選故障
在環(huán)境應力篩選試驗中由產(chǎn)品工藝缺陷或元件缺陷引起的故障。
3.3非環(huán)境應力篩選
由于非環(huán)境應力引起的故障，包括：
- 產(chǎn)品安裝不當引起的故障；
- 監(jiān)視儀表失靈引起的故障；
- 操作錯誤引起的故障；
- 試驗程序錯誤或程序執(zhí)行錯誤引起的故障；
- 過環(huán)境應力引起的故障；
- 從屬故障；
- 維修期間引起的故障。
3.4優(yōu)勢頻率
在功率譜密度曲線上zui大處對應的頻率。
3.5瞬態(tài)故障
需在一定的環(huán)境應力作用下方能顯示的故障。
4 一般要求
4.1環(huán)境應力篩選對象
研制階段和批生產(chǎn)初期的全部產(chǎn)品均應進行環(huán)境應力篩選；在批生產(chǎn)中、后期可根據(jù)產(chǎn)品批量及質(zhì)量穩(wěn)定情況進行抽樣篩選，抽樣方案見附D。
4.2試驗產(chǎn)品的要求
a.所有試驗產(chǎn)品應具有檢驗合格證明；
b.所有試驗產(chǎn)品應去除包裝物及減震裝置后再進行試驗。
4.3試驗的大氣條件
4.3.1 標準大氣條件：
溫度：15～35℃；
相對濕度：不加控制的室內(nèi)環(huán)境；
大氣壓力：試驗場所的當?shù)貧鈮骸?/span>
4.3.2仲裁大氣條件：
溫度：23±2℃；
相對濕度：（50±5）%；
大氣壓力：86～106KPa。
4.4試驗條件允差
4.4.1溫度試驗允差
除必要的支承點外，試驗產(chǎn)品應*被溫變試驗箱內(nèi)空氣包圍。箱內(nèi)溫度梯度（靠近試驗產(chǎn)品外測得）應小于1℃/m；箱內(nèi)溫度不得超過試驗溫度±2℃的范圍，但總的zui大值為2.2℃(試驗產(chǎn)品不工作)。
環(huán)境應力篩選試驗箱,快速溫變試驗箱,快速溫度變化試驗箱,溫變試驗箱專業(yè)生產(chǎn)廠商“東莞市科文試驗設(shè)備有限公司KOWIN TESTING EQUIPMENT CO.,LTD"