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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
電路板，屏幕高低溫冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備試驗(yàn)箱
用途
適用于電子、電工產(chǎn)品和其他設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是篩選電子元器件初期故障的助手。
電路板，屏幕高低溫冷熱沖擊測(cè)試設(shè)備試驗(yàn)箱
執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)
1、GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
2、GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
4、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
5、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
6、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
7、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
9、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
11、GB/T 2423.22-2002溫度變化
12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估
技術(shù)規(guī)格
| 型 號(hào) | 溫度沖擊范圍:-40~+150 ℃ | 溫度沖擊范圍:-55~+150 ℃ | ||||||||||||
| LTS-50 | LTS-80 | LTS-150 | LTS-252 | STS-50 | STS-80 | STS-150 | STS-252 | |||||||
| ■ 性能 | ||||||||||||||
| 試驗(yàn)方式 | 氣動(dòng)風(fēng)門切換 2 溫室或 3 溫室方式 | |||||||||||||
| 高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | 60 ～ + 200 ℃ | ||||||||||||
| 升溫速率 | RT. → + 200 ℃ 約 3 5 分鐘 | |||||||||||||
| 低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | -55 ～ -10 ℃ | -65 ～ -10 ℃ | |||||||||||
| 降溫速率 | + 20 → -55 ℃ 約 6 0 分鐘 | ＋ 20 →－ 65 ℃ 約 7 0 分鐘 | ||||||||||||
| 試驗(yàn)室溫度范圍 | -40 － +150 ℃ | -55 － +150 ℃ | ||||||||||||
| 溫度偏差 | ±2 ℃ | |||||||||||||
| 溫度恢復(fù)時(shí)間 | 5 分鐘以內(nèi) | |||||||||||||
| 恢復(fù)條件 | 高溫曝露 | 低溫曝露 | 高溫曝露 | 低溫曝露 | ||||||||||
| 150 ℃： 30 分鐘 | － 40 ℃： 30 分鐘 | 150 ℃： 30 分鐘 | － 55 ℃： 30 分鐘 | |||||||||||
| ※ 1. 溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗(yàn)箱單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能； 2. 恢復(fù)條件：室溫為＋ 20 ℃。 | ||||||||||||||
供電條件 電源
| AC220V 電壓允許波動(dòng)范圍：AC（220±38）V 頻率允許波動(dòng)范圍：（50±0.5）Hz 保護(hù)地線接地電阻小于4Ω；TN-S方式供電或TT方式供電 要求用戶在安裝現(xiàn)場(chǎng)為設(shè)備配置相應(yīng)容量的空氣或動(dòng)力開關(guān)，并且此開關(guān)必須是獨(dú)立供本設(shè)備使用 |
zui大電流 | 20A |