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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
LED模塊老化試驗(yàn)箱，LED模組濕熱老化箱,LED點(diǎn)陣高低溫老化試驗(yàn)特別適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機(jī)等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗(yàn)。
詳細(xì)介紹
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| 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn).中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分為強(qiáng)制性國(guó)標(biāo)（GB）和推薦性國(guó)標(biāo)（GB/T） 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB 10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB 10592-89高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T10589-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 重慶恒溫恒濕箱 滿足標(biāo)準(zhǔn) 電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-03_試驗(yàn)方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱 電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-01_試驗(yàn)方法A_冷 電工委員會(huì)標(biāo)準(zhǔn),IEC68-2-02_試驗(yàn)方法B_干熱 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810D方法502.2 美國(guó)標(biāo)準(zhǔn),MIL-STD810方法507.2程序3 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-3-1987 試驗(yàn)Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài) 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-2-1995 試驗(yàn)B:干熱 日本工業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JIS C60068-2-1-1995 試驗(yàn)A:低溫 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗(yàn) 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A103-C-2004 高溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 美國(guó)半導(dǎo)體行業(yè)標(biāo)準(zhǔn),JESD22-A119-2004 低溫儲(chǔ)存試驗(yàn) 四川濕熱試驗(yàn)箱 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.1-2001 低溫 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.2-2001 高溫 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗(yàn)方法 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗(yàn) 中國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),GB/T2423.4-93方法 重慶恒溫恒濕箱 中國(guó)國(guó)家環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗(yàn) |
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| ◇型號(hào)規(guī)格及主要技術(shù)參數(shù) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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