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產(chǎn)品簡介
偏光片高低溫箱，濾光片溫度濕度老化試驗箱，濕熱箱于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗；適用于光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等產(chǎn)品的耐高溫、耐低溫、耐潮濕循環(huán)試驗。
詳細介紹
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| 執(zhí)行標準.中國國家標準分為強制性國標（GB）和推薦性國標（GB/T） 中國國家標準,GB 10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件 中國國家標準,GB 10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件 中國國家標準,GB/T10589-1989低溫試驗箱技術(shù)條件 重慶高低溫試驗箱 滿足標準 電工委員會標準,IEC68-2-03_試驗方法Ca_穩(wěn)態(tài)濕熱 電工委員會標準,IEC68-2-01_試驗方法A_冷 電工委員會標準,IEC68-2-02_試驗方法B_干熱 美國標準,MIL-STD-810F-507.4 濕度 美國標準,MIL-STD-810F-501.4 高溫 美國標準,MIL-STD-810F-502.4 低溫 美國標準,MIL-STD883C方法1004.2溫濕度組合循環(huán)試驗 美國標準,MIL-STD810D方法502.2 美國標準,MIL-STD810方法507.2程序3 重慶高低溫試驗箱 日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-3-1987 試驗Ca:濕熱、穩(wěn)態(tài) 日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-2-1995 試驗B:干熱 日本工業(yè)標準,JIS C60068-2-1-1995 試驗A:低溫 美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A101-B-2004 恒定溫濕度試驗 美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A103-C-2004 高溫儲存試驗 美國半導體行業(yè)標準,JESD22-A119-2004 低溫儲存試驗 重慶高低溫試驗箱 中國國家標準,GB/T 2423.1-2001 低溫 中國國家標準,GB/T 2423.2-2001 高溫 中國國家標準,GB/T 2423.3-1993 恒定濕熱試驗方法 中國國家標準,GB2423.34-86 溫濕度組合循環(huán)試驗 中國國家標準,GB/T2423.4-93方法 重慶高低溫試驗箱 中國國家環(huán)境試驗設(shè)備方法,GJB150.9-8 濕熱試驗 |
| 型號規(guī)格及主要技術(shù)參數(shù) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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